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日本SANKO山高膜厚计的测定事项
日本SANKO山高膜厚计
又名膜厚测试仪,分为手持式和台式二种,手持式又有磁感应镀层测厚仪,电涡流镀层测厚仪,荧光X射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理是,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。
测定准备
(1)确保电池正负极方向正确无误后设定。
(2)探头的选择和设定:在探头上有电磁式和涡电流式2种类型。对准测定对象,在本体上进行设定。
测定方法
(1)探头的选择和安装方法:确认电源处于OFF状态,与测定对象的质地材质接触,安装LEP-J或LHP-J。
(2)调整:确认测定对象已经被调整。未调整时要进行调整。
(3)测定:在探头的末端加一定的负荷,即使用[一点接触定压式]。抓住与
测定部接近的部分,迅速在与测定面成垂直的角度按下。下述的测定,每次都
要从探头的前端测定面开始离开10mm以上。使用管状的东西连续测定平面时,如果采用探头适配器,可以更加稳定地进行测定。
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