冷热冲击箱设备3AP-CJ-50A冷热冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具
三、控制仪表 爱佩自主研发的7英寸超大触摸AP-950可程序温度控制器全触摸屏控制器，触摸屏输入，根据客户要求可任意设定不同高低温冲击温度点，满足做测试的不同需求.
四、试样限制 本试验设备禁止易燃、易爆、易挥发性物质试样的试验或储存腐蚀性物质试样的试验或
储存生物试样的试验或储存强电磁发射源试样的试验或储存。
五、三箱特点 1、三箱设备区分为高温区、低温区、测试区三部分，测试样品完全静止于测试区。采用独特之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击,完成冷热温度冲击测试。
2、可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，执行冷热冲击条件时，可选择2箱或3箱之功能并具有高低温试验机的功能,相比于2箱冲击它还可选择做常温冲击。
六、冷热冲击箱设备容积、尺寸和重量
6.1. 内容积 50L
6.2. 内箱尺寸 400 *350 *350mm (W* H *D)
6.3.外型尺寸(约) 1350*1900*1650mm (W* H *D)
6.4. 重 量 约900㎏
七、冷热冲击箱设备性能指标
7.1. 测试环境条件 机器周围环境温度维持在 25~ 30℃之间，相对湿度：≤85%；气压：86kPa～106kPa正常大气压力。
7.2. 满足标准 .GB/T2423.1-2008 低温试验方法Test method of low tempemture test
·GB/T2423.2-2008 高温试验方法Test method of high temperature test
·GB/T2423.22-2012 温度变化试验Test of temperature chantge
·GJB150.5-86温度冲击试验Test of temperature shock
·GJB360.7-87温度冲击试验Test of temperature shock
·GJB367.2-87温度冲击试验Test of temperature shock
·QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等
7.3.测试室温度范围： -40℃～ 150 ℃ (风冷式)
7.4. 高温室
7.4.1. 预热温度范围 RT～ 165℃
7.4.2. 升温时间
50℃→ 165℃ ≤30min
注：升温时间为高温室单独运转时的性能
7.5. 低温室
7.5.1. 预冷温度范围 RT～-55℃
7.5.2. 降温时间 20℃ → -55℃≤约60min
注：降温时间为低温室单独运转时的性能
7.6. 试验室（试样区）
7.6.1. 试验方式 采用独特之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击,完成冷热温度冲击测试。
7.6.2. 温度波动度 ±0.5℃
7.6.3. 温度偏差 ±2.0℃
7.6.5. 温度恢复时间 ≤5min；转换温度只需要≤10s（风门开启时间：3秒以内）
