精密分析天平

精密分析天平XPE系列功能特点：

精密分析天平XPE系列*大限度地减少静电荷

我们的 StaticDetect 静电检测技术可检测样品或其容器上的静电荷。 如果称量错误超过用户定义的限值，则出现警告；然后可以采取防静电措施。 为了获得过程**性，可锁定称量结果的发布。

精密分析天平XPE系列用户引导过程管理

梅特勒-托利多的 LabX® 实验室软件可在天平触摸屏上显示的灵活的 SOP 用户指南。 利用自动数据处理、计算和报告，具有 LabX 软件的天平可以轻松实现过程**性和可追溯性要求，并支持您实现无纸化实验室。

精密分析天平XPE系列结果可靠

超越系列分析天平将获得砖利的梅特勒-托利多称量技术与数十年的称量专业知识相结合，确保您快速、可靠地获得*佳的称量结果！

精密分析天平XPE系列易于清洁

凭借独特的网格秤盘和可在数秒钟内拆卸的防风罩，始终确保称量区域清洁、**。

精密分析天平XPE系列规格型号：

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