产品目录

当前位置：首页 >>> 公司新闻 >

公司新闻

pct加速老化试验箱简介及应用

　　PCT老化箱（又名pct加速老化试验箱）主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。

产品简介

　　1.pct加速老化试验箱采用*新优化设计,美观大方，做工精细。

　　2.采用大容量水箱,试验时间长,不中断。

　　3.采用智能温控器，具有精度高，控制稳定特点（依客户需要也可选择采用触摸屏为4.3寸真彩屏，USB曲线数据下载功能，和通讯功能）。

产品应用

　　广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。

半导体测试

　　pct加速老化试验箱对半导体的PCT测试：PCT*主要是测试半导体封装之抗湿气能力，待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试，如果半导体封装的不好，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中，常见的故装原因：爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。

尊敬的客户：

　　本公司还有步入式高低温试验箱、三箱冷热冲击试验箱、电磁振动试验台产品，您可以通过网页拨打本公司的服务电话了解更多产品的详细信息，至善至美的服务是我们的追求，欢迎新老客户放心选购自己心仪产品，我们将竭诚为您服务！

上一篇：三箱冷热冲击试验箱的基本原理
下一篇：步入式高低温试验箱简介

若网站内容侵犯到您的权益，请通过网站上的联系方式及时联系我们修改或删除