江崎推荐SIGMAKOKI西格玛光学样板 HMPQP-60C12-40

江崎推荐SIGMAKOKI西格玛光学样板 HMPQP-60C12-40

使用形状随温度变化极小的材料，经过高精度抛光后的基板。

可以作为干涉仪的样板的或光学样板使用。

◦光学样板附有使用干涉仪测量的面型精度检验数据。

◦从丰富细化的尺寸或各种面型精度的系列产品中，选择符合您的技术要求的产品。

◦大型的高面型精度的光学样板，使用的是比合成石英热膨胀系数还低的材料。

◦ 侧面箭头符号指向的一面为高面型精度的抛光面。

◦光学样板将被放入保管箱中交货。

微晶玻璃®是SCHOTT AG公司的注册商标。

CLEARCERAM®是株式会社小原的注册商标。

另外备有可以防止反面反射影响的楔形基板（WSB/WSSQ/WSSQK）。

WEB参照/カタログコードW3141

注意

作为光学样品使用时，由于样品与样板接触，样品可能会有损伤。如果不能使样品产生损伤时，请使用激光干涉仪等进行检查。

光学样板的条纹圈数约为由干涉仪得到的PV值解析结果的2倍。

光学样板为了保持面型精度而没有镀膜。需要镀膜时请联系营业部门。

光学样板有裂缝，边缘有缺口时，面型精度有可能会变差。存在裂缝或缺口时请更换新的样板。

参考

牛顿环是指，将光学样板和样品贴紧时产生的彩虹色条纹，从这种条纹的形状和圈数可以推测样品的面型精度。

厚度 t 25mm

表面质量 20−10

外径 φD φ150mm

材质 低膨胀玻璃

反射波面精度 PVr λ/40

平行度 ＜3′

有效直径 外径的90%

反面 抛光面

SIGMAKOKI西格玛光学样板 HMPQP-60C12-40

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  2024.7.26