产品名称：HORIBA堀场超大样品室X 射线荧光分析仪

彻底改变大样品分析的现状，扩展应用范围

XGT-9000SL 系列的超大样品室设计，其容积尺寸为：1030 mm（宽）x 950 mm（深）x 500 mm（高），同时，它还配置了 500 mm x 500 mm 大样品台。这一组合为研究人员无损元素分析大型样品，如：绘画、大型印刷电路和制动盘等提供了便利。此外，研究人员可以在同一平台上放置多个小尺寸样品，实现顺序分析，大大提升了工作效率与灵活性。

荧光X射线和透射X射线双探测器

XGT-9000SL 系列同时配置两种类型的探测器。一种是荧光 X 射线探测器，它提供样品的元素分布信息；另一种是透射 X 射线探测器，它提供样品的内部结构信息。XGT-9000SL 可以同时获得同一区域两种类型的图像。这一功能特别有助于更好地了解电子产品、含有夹杂物的宝石和生物样品。

印刷电路板的元素分布图像和透射 X 射线图像的同时成像
（左）叠加的元素分布图像显示 IC 芯片里有异物。（右）透射X射线图像显示 IC 芯片中有许多空隙。

X 射线屏蔽防护室确保用户免受 X 射线辐射伤害

XGT-9000SL 具有强大的 X 射线屏蔽功能，可防止 X 射线辐射（符合 IEC-61010-1/JAIMAS0101-2001标准）。通过透明防护罩（1），研究人员可以在测量过程中轻松地观察和监测样品室内的样品，无需担心**问题。该系统还包括位于前面板上的 X 射线辐射指示器（2），当 X 射线处于活动状态时起到提醒警示的作用。此外，XGT-9000SL 在样品室门上配备了联锁装置（3），防止在系统运行时用户意外打开舱门。

多重**功能保护珍贵样品免受碰撞风险

多重**功能，确保珍贵样品得到 100% 的保护:

1. 样品台位置计算：软件可以根据样品高度的输入值计算**初始位置。这意味着样品台将向上移动并停在合适的位置，从而*大限度降低与光学器件或其他敏感部件发生意外碰撞的风险。
2. 激光传感器：即使输入了不准确的样品高度，该系统也可以通过激光传感器检测样品的位置，并在样品与光学器件接触之前停止样品台上升。
3. 样品台锁：XGT-9000SL 系列配备了精密的样品台控制器，该控制器具有**锁功能。即使操作人员以错误的方式操作样品台，样品台也不会超出指定的**位置。

灵活且用户友好的软件界面

XGT-9000SL 系列软件具有高度灵活和用户友好的界面。数据树、光学图像、光谱结果、元素周期表和扫描成像结果皆可一目了然。用户可以自定义屏幕上的布局，并将结果显示在多个显视器上，方便研究团队进行数据分析。

除了标准的软件功能外，研究人员还可以在软件包中添加**模块，体验更**的各项**功能。

• 多层膜 FPM 检测模块，用于带/不带标准样品的膜厚测量
• 用于 RoHS 筛选的 RoHS 检测模块
• 用于无人值守模式下自动多重测量的队列检测模块
• 用于颗粒分析和共定位分析的颗粒检查模块
• LabSpec Link模块，用于将数据导入到 LabSpec 6 行多变量分析

应用案例

• 微区 X 射线荧光光谱技术揭秘天才画家梵高的画艺
• 拉曼光谱和 X 射线荧光光谱揭示日本古代艺术形式背后的秘密

*He 吹扫条件是 XGT-9000SL Pro 检测低至氟或 XGT-9000 SL C 检测低至碳所必需的。