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产品资料

介质损耗测试仪生产厂家

介质损耗测试仪生产厂家
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  • 产品名称:介质损耗测试仪生产厂家
  • 产品型号:
  • 产品展商:久益
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简单介绍
抗干扰介质损耗测试仪通过测量电路分别测得标准回路电流与被试回路电流幅值及其相位差,再由数字信号处理器运用数字化实时采集方法,抗干扰介质损耗测试仪通过矢量运算得出试品的电容值和介质损耗正切值。
产品描述

简要介绍

广泛的测量对象

无源元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。

半导体元件:变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析

其它元件:印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估

介质材料:塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估

磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估

半导体材料半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性

液晶材料:液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性

技术参数

测试参数

C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

测试频率

 

20 Hz~2MHz,10mHz步进

测试信号电

f≤1MHz

10mV~5V,±(10%+10mV)

f>1MHz

10mV~1V,±(20%+10mV)

输出阻抗

10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本准确度

0.1%

 

L

0.0001 uH ~ 9.9999kH

 

C

0.0001 pF ~ 9.9999F

 

R,X,Z,DCR

0.0001 Ω ~ 99.999 MΩ

显示范围

Y, B, G

0.0001 nS ~ 99.999 S

 

D

0.0001 ~ 9.9999

 

Q

0.0001 ~ 99999

 

θ

-179.99°~ 179.99°

测量速度

快速: 200次/s(f﹥30kHz) ,100次/s(f﹥1kHz) 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校准功能

开路 / 短路点频、扫频清零,负载校准

等效方式

串联方式, 并联方式

量程方式

自动, 保持

显示方式

直读, Δ, Δ%

触发方式

内部, 手动, 外部, 总线

内部直流偏

电压模式

-5V ~ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进

置源

电流模式(内阻为50Ω)

-100mA ~ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进

比较器功能

10档分选及计数功能

显示器

320×240点阵图形LCD显示

存储器

可保存20组仪器设定值

 

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)

 

USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口

LAN(LXI class C support)

RS232C

HANDLER

GPIB(选件)



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