晶体阻抗计32.768KHz晶振测试仪

基本介绍

性能特点

• 高精度测量：采用先进的信号处理技术和算法，能够**测量石英晶振的频率、相位差、温度系数等参数，误差率极低。
• 快速测量：内置高速数据采集系统，能够在短时间内完成对石英晶振信号的采集和分析，大大提高了测试效率。
• 多种测试模式：具备多种测试模式，用户可以根据实际需求选择合适的测试模式，以满足不同场景的测试需求。
• 自动化操作：内置智能控制系统，可以实现自动化测试和数据分析，减少人工操作带来的误差。
• 便携式设计：采用轻便、紧凑的设计，方便携带和移动，可以随时随地进行石英晶振测试。

技术参数

• 测试频率：32.768KHz
• *大测试频率：20MHz
• 测量精度：±ppm
• 稳定性：±ppm
• 测试时间：≤5秒
• 供电要求：AC 220V±10%，50Hz
• 环境温度：10℃-30℃
• 环境湿度：≤80%RH

使用说明

• 开机准备：将晶体阻抗计32.768KHz晶振测试仪GDS-327连接电源，开机后等待设备自检完成，确保设备处于正常工作状态。
• 连接晶振：根据被测晶振的类型和测试需求，将晶振正确连接到仪器的测试端口。仪器可适配不同封装的晶振，包括SMD封装（如3225/5032等）、插件晶振（如HC-49/U/S）等。
• 参数设置：在仪器的操作界面上，根据具体的测试要求设置相应的参数，如测试频率、负载电容等。仪器具备智能分析系统，可自动识别并适应不同的测量需求。
• 开始测量：确认各项设置无误后，点击“开始测量”按钮，仪器将自动进行测量，并在屏幕上显示测量结果。测量过程中，仪器会实时采集数据，并进行分析处理。
• 数据读取与保存：测量完成后，用户可以在仪器的屏幕上查看测量结果，包括串联谐振频率、负载谐振频率、等效电阻、负载电阻、负载电容、动态电容、动态电感、品质因数、频率牵引力等参数。通过USB接口，可将测量数据上传至电脑进行数据管理和分析。

采购须知

• 确认需求：在采购前，明确自己的测试需求，包括需要测试的晶振类型、测试精度要求等，以便选择合适的GDS-327配置。
• 选择正规渠道：建议通过智慧源官方授权的经销商或直接联系智慧源厂家进行采购，确保购买到**仪器，并获得完善的售后服务。
• 注意售后服务：了解智慧源提供的售后服务政策，包括保修期限、维修服务、技术支持等。在使用过程中，如遇到任何问题，应及时联系售后服务人员进行解决。
• 考虑扩展性：如果未来可能增加测试需求或升级设备，可以考虑选择具有扩展功能的GDS-327型号，以便后续进行功能扩展。

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