在R&S FSU是一个高性能的频谱分析仪中的相位噪声表现出色，动态范围和测量精度，以满足在RF分析任何挑战-在航空航天和国防或一般微波应用高达67 GHz。
为了处理产品开发中的各种测量任务，仪器必须在所有感兴趣的领域中提供足够的功能和出色的性能。在R&S FSU完全满足这些要求。其宽动态范围使得R&S FSU对基站的开发和测试的理想工具。
主要特性
·全fang位的探测器
·多功能分辨率滤镜
·全fang位的分析功能
·高动态范围
·稳定后测量频率偏差
·功率测量
·具有宽动态范围的标量网络分析
·直接频率范围高达67 GHz
·使用罗德与施瓦茨的外部混频器轻松将频率范围扩展至110 GHz
·支持高达1 THz的外部混音器测试周期短，通量高
-快速时域功率测量
-列表模式：通过单个命令组合测量各种参数
-通过IEC/IEEE总线在零跨度内*多可进行70次测量/秒，包括跟踪数据传输
-快速频率计数器：0.1 Hz分辨率，测量时间为
·兼容859x / 8566的IEC / IEEE总线命令集
·高测量速度
规格参数
一、3.6/8/26/43/46/50/67 GHz
二、TOI>20 dBm，典型值+25 dBm
三、1 dB压缩：+13 dBm（0 dB射频衰减）
四、显示的平均噪声水平：–2 GHz时为–152 dBm；在26 GHz（1 Hz带宽）下为–148 dBm
五、典型值 3GPP（典型值）77 dB ACLR 84 dB（带噪声校正）
六、相位噪声：典型值 10 MHz载波偏移时–160 dBc（1 Hz）
七、噪音校正
八、尺寸：435×192×460 mm（17.13×7.56×18.11 in.）
九、重量：16.5 kg（36.4 lb.）