日本TECLOCK得乐测厚规SM-114 TECLOCK-SM-114 深圳市骆伟达科技有限公司

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产品名称：日本TECLOCK得乐测厚规SM-114
产品型号：TECLOCK-SM-114
产品厂商：日本TECLOCK得乐测量工具
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简单介绍：

深圳市骆伟达科技有限公司长期现货供应日本TECLOCK得乐测厚规SM-114 ，内径规;卡规;测微器;厚度计;深度计;张力计;硬度计;千分表;百分表等全系列产品欢迎来电咨询！！

详情介绍：

日本得乐TECLOCK测厚规SM-114

品牌：TECLOCK(日本得乐)

简介：

用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量，加长型测臂具有更大的测量

深度。

测量范围：0-10mm

***小读数：0.01mm

原理：在一定的面积与一定荷重下，测量出的物件厚度。指针式测厚规可以

作为物品检测时的基础测量。

技术参数：

指式方式：指针式

测量范围：0-10mm

***小读数：0.01mm

测量深度：120mm

体积大小：(W*D*H)190*23*145mm

型号	精度	测定范围	测定力（N.gf）	短针	测定子形状(上)	测定子形状(下)
SM-112	0.01	10	2.5(250)	有	φ10平	φ10平
SM-112LS					Sφ3.2(1/8)	φ10平
SM-112LW					Sφ3.2(1/8)	Sφ3.2(1/8)
SM-112-3A					φ5平	φ5平
SM-528	0.01	20	3.5(350)	有	φ10平	φ10平
SM-528LS					Sφ3.2(1/8)	φ10平
SM-528LW					Sφ3.2(1/8)	Sφ3.2(1/8)
SM-528-3A					φ5平	φ5平
SM-114	0.01	10	2.5(250)	有	φ10平	φ10平
SM-114LS					Sφ3.2(1/8)	φ10平
SM-114LW					Sφ3.2(1/8)	Sφ3.2(1/8)

1. 用途：

测厚规主要用于测量纸张、皮革、橡胶、织物及各种金属板材、玻璃板等的厚度。

2. 结构原理：

测厚规是用于测量固定于表架上的指示表测头测量面相对于表架测砧测量面的直线位移量（厚度），并由指示表进行读数的测量器具

4. 示值误差的检定：
测厚规示值误差的检验是将3级量块置于测厚规的两测量面之间，指示表的指示值与量块尺寸之差即为示值误差。各点示值误差应符合表2规定。该项检验至少应在测量范围内均布的四个位置上进行。推荐检验测厚规示值误差的量块尺寸为2.2, 4.5, 7.7, 10mm。
5. 使用与保养：
1、使用时应避免指示表的剧烈冲击，以免影响读数准确。
2、使用前应将两测量面擦干净并调表到0位，即可直接测量读取被测工件的实际尺寸。
3、测量完后应将两测量面擦净并涂防锈油，再把测厚规放入包装盒中。

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