企业信息
第1年
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产品详情
简单介绍：
进口ULVAC爱发科 高速光谱椭偏仪UNECSｰPortable
进口ULVAC爱发科 高速光谱椭偏仪UNECSｰPortable
详情介绍：
进口ULVAC爱发科 高速光谱椭偏仪UNECSｰPortable
进口ULVAC爱发科 高速光谱椭偏仪UNECSｰPortable
进口ULVAC爱发科 高速光谱椭偏仪UNECSｰPortable
UNECS系列是可以高速、高精度测量薄膜膜厚和折射率的分光椭偏仪。采用独特的测量方式，实现了高速测量和机体的小型化。
我们的产品阵容包括独特的便携式，自动式和对应真空环境的设备内置式类型。
UNECS-1500M装备有操作性好的对应Φ150mm的手动式R-θstage，易于定位测量位置。
我们的产品阵容包括独特的便携式，自动式和对应真空环境的设备内置式类型。
UNECS-1500M装备有操作性好的对应Φ150mm的手动式R-θstage，易于定位测量位置。
特点
-
高速測定：
独特的快照方法可实现高达20 ms的高速测量。 -
适用于可见光谱：
波长范围可选标准类型（530nm至750nm）和可见光谱类型（380nm至760nm）。 -
紧凑型传感器单元：
光发射和接收的传感器仅由没有旋转机构的光学部件组成，因此非常轻且紧凑，并且不需要定期维护。 -
丰富的产品阵容：
产品阵容应用广泛，包括如独特的便携类型，手动/自动平台类型，大型基板类型，以及支持大气/真空环境的内置类型。
用途
- 透明或半透明薄膜（氧化膜，氮化膜，抗蚀剂，ITO等）的膜厚，折射率，消光系数的测量
规格
| 波长范围 | 530～750nm、380～760nm（选择） | |
| 点径 | Φ1mm、Φ0.3mm（选择） | |
| 入射角度 | 70o固定 | |
| 膜厚再现性 | 1σ = 0.1ｎｍ | |
| 膜厚范围 | 1nm～2μｍ | |
| 测量时间 | 受光：20ms ～ 3000ms 演算：300ms | |
| 平台 | Φ150mm手动式R-θ平台 | |
| 控制PC | 笔记本类型（带操作/分析软件） | |
| 机器构成 |
测量本体（手动平台、控制器BOX付き） 光源单元、操作PC（笔记本型）、使用说明书（CD） |
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