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原装ADCMT爱德万流电压流发生器设备
原装ADCMT爱德万流电压流发生器设备
6146/6156是一款精密电压/电流发生器，非常适合半导体、电子元件和模块研发中的特性评估、生产线的特性测试以及仪表和测量仪器的校准。
该产品是采用ADC长期积累的高精度电压和电流发生电路技术设计的产品，实现了宽动态范围、高分辨率、高精度和低输出噪声，使其更加可靠。可以构建高通量的测量系统。
此外，还采用了许多功能，可以独立使用或集成到自动测量系统中，提高了用户的易用性。
此外，它还具有基于JIS的各种热电偶的热电动势生成功能，使温度计等的校准变得更加容易。
特征
宽动态范围输出范围电压和电流生成模式
6146/6156 是双极性输出，可在 ±32V、±220mA 范围内提供和吸收电流。由于它是双极型输出放大器，因此可以通过从负输出到正输出过零来连续可变输出。
快速响应和低噪声电压/电流输出
与之前的型号相比，6146/6156 的输出电压/电流响应时间显着缩短，稳定时间小于 10 ms，即可达到*终值的 ±0.1%。因此，可以显着减少表征部件和模块的时间以及自动测试的节拍时间。
此外，输出噪声设计为低至 100 μVp-p（30 V 范围，DC 至 100 Hz 频段），从而提高了评估半导体和各种传感器特性时的测量可靠性。
内置暂停功能，非常适合自动测试
在电子元件和模块的自动测试设备中，更换器件时，需要将输出继电器设置为“待机”状态，输出继电器断开，以防止不必要的电压施加到DUT上。重复这些“工作”和“待机”状态需要输出继电器的接通和断开，这极大地影响了输出继电器的寿命。
6146/6156可以将输出OFF状态转换为“高阻抗（HiZ）”（输出继电器ON，高电阻状态）和“低阻抗（LoZ）”（输出继电器ON，低电阻状态），而无需切换继电器。具有保持电源接通的暂停功能，可以从包括“待机”（输出继电器关闭）状态在内的三种状态中进行选择。
此功能有助于延长输出继电器的使用寿命并提高系统吞吐量。
此外，在测试电池等电压产生设备时，可以防止连接时出现瞬态电流。
与多个电压/电流发生器和数字万用表同步运行
电子设备和模块的测试可能需要从多个系统施加电压。在这种情况下，必须通过同步应用时序来改变施加到 DUT 的电压。
6146/6156 允许多台发电机同步运行。
这是通过将操作/待机时序信号和电压可变时序信号从一个主机连接到另一个主机来实现的。
此外，在施加电压后用数字万用表测量电压时，可以使电压施加和测量定时同步，从而可以构建等待时间*短的自动测量系统。
它具有用于同步控制的信号线，可同步和输出多个 6146/6156 单元的信号。 下面显示了使用这些控制信号同步三个 6146/6156 单元的扫描操作的示例。通过将[主站]的“SYNC OUT”和“OPERATE IN OUT”信号连接至[从站]的“TRIGGER IN”和“OPERATE IN OUT”，可以实现多台设备的同步操作。
HI/LO限制器可单独设置
限制器功能对于在电压和电流生成期间保护连接的设备非常重要。
它具有电流限制功能，用于在电压产生时限制输出电流，以及电压限制功能，用于在电流产生时限制后续电压。
6146/6156 的电压和电流限制器有两个限制值设置级别，可以单独设置。
HI限值和LO限值可以设置为相同的值
“HI限值”和“LO限值”可以设置为不同的值
易于使用的控制面板
产生的电压/电流值可以使用按键开关直接从前面板设置，也可以指定任意数字并使用旋钮或“↑”和“↓”键连续改变（增加/减少）值）可以做到。 因此，您可以通过一键式按键操作来检查设备的输入/输出特性并执行测量，大大提高了可操作性。
热电偶热电动势输出功能（**6156）
6156具有根据JIS表产生热电偶热电动势的功能。通过选择热电偶的类型并输入想要产生的温度，就会输出与设定温度相对应的电压。
热电偶有 T、J、E、K、S、R、B、N 8 种类型，可选择 JISC1602-1995 和 JISC1602-1981。 N型仅适用于JISC1602-1995。
参比端补偿可设置为 0 °C 或任何温度（用户输入）。
此功能允许对温度计和仪器设备进行温度校准。
6156的热电动势输出功能内置了将每个热电偶的温度-热电动势线性化的功能，因此您只需在6156上设置要校准的温度即可轻松校准温度计。
应用
用于半导体和电子元件的可靠性测试
对于半导体和传感器等电子元件，我们对器件进行老化测试以确保可靠性。这些测试需要高电压稳定的电源。 还有一些测试可以改变电源电压来检查设备的正常工作范围。 6146/6156 具有低噪声、稳定性和出色的生成分辨率，使得执行此类高度可靠的测试成为可能。
- 使用6146/6156作为设备电源或输入信号。
- 用数字万用表监视设备的输出电压等。
- 6146/6156 和数字万用表可以使用 GPIB 或 USB 采集系统中的长期老化数据。