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正置金相显微镜检定规程
正置金相显微镜检定规程
1. 检定规程的说明
名称 (中文) 金相显微镜检定规程
(英文) Verification regulation for metallographic microscope
适用范围 本规程适用于新安装、使用中或修理后的大中型金相显微镜的检
定。
主要技术要求 1. 外观要求
2. 安装条件
3. 检定环境
4. 检定设备
5. 检定项目和检定方法
是否分级 无
检定周期(年) 2
附录数目 1
检定用标准物质
相关技术文件
备注
2. 金相显微镜检定规程的摘要
2 范围
本规程适用于新安装、使用中或修理后的大中型金相显微镜的检定。
2.1 原理
仪表是用于研究观察金属、陶瓷、矿石等有透明固��物质的组织结构。它是利用照明光
在样品上的反向,经透镜的折射,把原来用眼无法观察到的组织结构,经物镜和目镜两个光
学放大系统放大后,获得清晰的图像。显微镜的放大倍数等于物镜和目镜放大倍数之积。可
写成:
M =△/ Fob · D / Fok (1)
式中 M —— 放大倍数
△/ Fob—— 物镜放大倍数
D / Fok —— 目镜放大倍数
△ —— 镜筒长度
Fob —— 物镜焦距
D —— 常数,250mm
Fok —— 目镜焦距
2.2 构成
载物台、照明系统、显微镜放大系统、摄影系统。
3 计量单位 (毫米(mm)微米(μm)符合GB3102.6—93要求)
4 计量要求
4.1 计量特性
4.1.1 物镜分辨率:高倍(40×以上)物镜,分辨0.30μm,物镜放大倍数**度达±5%以
内。
4.1.2 总放大倍数:20×~2000×范围
4.1.3 光源:卤素灯及氙灯
4.1.4 功能:明视场、暗视场、偏振光、干涉、微分干涉衬度、特殊附件、显微硬度、宏
观装置。
5 技术要求
5.1 外观要求
仪表应有下列标志、名称、型号、制造厂名、出厂日期、仪表号等项标志,并附有出厂
合格证和使用说明书。
5.2 安装条件
5.2.1 应将仪表安装在通风、避阳光干燥的房间内,仪表放置于平稳防震动的工作台上,
电源接插件应紧密配合,有良好接地线,接入仪表电源前应有稳压器。
5.2.2 仪表主机、光源、滤色片、孔径光栅、粗细调节钮、摄影系统及附件均完好无损、
物镜、目镜等附件应无霉斑。
5.3 检定环境
5.3.1 电源电压:单相(220±10)V,50Hz。
5.3.2 室内温度15℃~30℃。
5.3.3 环境相对湿度:≤70%
5.3.4 仪表不受阳光直接照射,室内无腐蚀性气体,通风良好。
5.3.5 显微镜平稳放置于工作台上,无振动。
5.4 检定设备
5.4.1 标准物镜测微尺0.01mm分刻度板和目镜测微尺0.1mm分刻度板(或与目镜一体)。
5.5 检定项目和检定方法
5.5.1 外观检定按5.1进行。同时对物镜及光路上附件检定基本上无霉斑更不能影响观察及
摄像。
5.2.2 光路检定:方法,将样品放置于载物台上,打开光源并对中心,然后照明光进入光
路,调整孔径和视场光栏到合适程度,用粗细调节钮对样品聚焦能观察到清晰且光线均匀的
物像为止。
5.2.3 载物台中心检定方法:把样品放置于载物台上,在目镜筒中看到物像,取其一特征
点移至观察中心,然后转动载物台(0°~180°转动)而其特征点仍在中心(原位)或略偏离中
心少许。
5.5.4 物镜实际放大倍数检定方法:将0.01mm分刻度板放置在载物台上,又将待检的物镜
装上(如10×)转到工作位置,把0.1mm分刻度目镜测微尺插入光路中,然后对0.01mm分刻度
板聚焦观察0.1mm分刻度的格数与0.1mm分刻度多少格相重合,通过计算,得物镜实际放大
倍数 (2)
5.5.5 视场面积检定方法:在物镜和目镜配合下测定视场内的面积,用目镜测微尺分别测
出视场横向、纵向的直径,然后取其算术平均值,得视场面积
S =π d 2/4 (3)
式中 d 为视声平均直径
面积愈大,观察样品的范围愈大。
5.5.6 显微镜功能检定:逐一对明视场、暗视场、偏振光、干涉、微分干涉衬度等附件装
上,进行观察,均能达到其应有的效果。图像清晰,附有显微硬度附件检定其压痕值是否与
标准块相符确定其正确性。
5.5.7 光源对中检定,按仪表型号不同,方法有所区别,但原理是一致的,通过调整光源
位置(前后左右)使光源灯丝像落在视场范围的中心位置。
6 计量管理
6.1 检定结果处理
经检定后的仪表,发给检定证书。在检定结论中需明确说明被检定的仪表应属于何种级
别,是否合格,存在的问题和建议等。
6.2 检定周期
6.2.1 新安装和修理后的仪表应按本规程进行**检定。
6.2.2 仪表的检定周期为2年。
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