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　　1.测量系统必须处于统计控制中，这意味着测量系统中的变差只能是由于普通原因而不是由于特殊原因造成的。这可称为统计稳定性。

　　2.测量系统的变差必须比制造过程的变差小。

　　3.变差应小于公差带。

　　4.测量精度应高于过程变差和公差带两者中精度较高者，一般来说，测量精度是过程变差和公差带两者中精度较高者的十分之一。

　　5.测量系统统计特性可能随被测项目的改变而变化。若真的如此，则测量系统的*大的变差应小于过程变差和公差带两者中的较小者。