SD Card 测试分类机

Chroma 3280采用**的技术整合SD卡测试机与 自动分类机的功能，并利用Test-In-Tray的技术来 达到大量平行测试的能力。透过支援SD资料传 输协定(SD Protocol Aware)与提供特定DC参数测 试的功能，3280为所有的SD卡类产品带来了一 个**的测试方法，而这高效率的测试方法也为 客户带来大幅降低生产成本的好处。此外，小机 台的设计更可节省机台于测试厂之占地面积。

对于低价的消费性产品而言,即使在生产成本上 仅有些微的差距，制造商也会极为敏感。而这样 的特性往往是此类消费性产品在成品测试中之一 大挑战。对于SD卡类产品而言，为了能够降低 生产的成本，SD卡类制造商了解在SD卡的制程 中必须采用Known Good Die(KGD)来进行生产。 其主要的原因，乃是因为采用KGD生产的SD卡类 产品，将可减少在成品测试中对于测试项目的要 求，只需针对成品封装过程中所可能产生的瑕疵 进行检

Chroma 3280提供SD卡高效率的测试解决方案 
Test-In-Tray : 乃是将待测物置于IC托盘中直接测 试的测试方式。利用这样的测试方法，可以大幅 节省传统的测试方法因自动分类机在进行测试 时，必须以机器手臂夹取每个待测元件所需花取 的索引时间。因此，提供了一个*有效率的测试 方法。在Chroma 3280中,对于120个SD卡进行测 试时所需花费的索引时间大约只有10秒钟。

高平行测试能力 : Chroma 3280配备了一个专属 的SD卡测试机巢 (Test Hive)，此一测试机巢提供 了能够同时测试120个micro SD卡的测试能力。

SD卡测试模组 : Firecracker II 
Firecracker II的电路设计与装置于3280测试机巢 (Test Hive)中的测试模组其电路设计完全一样。 对于3280的使用者而言，Firecracker II是一个相 当方便的工具。它能够使得使用者在与3280离线 的状态下，用来产生或测试其测试程式。透过多 样化转接介面的设计，使用者能在Firecracker II的 左端中插入micro SD, mini SD, SD以及MMC等不同 的待测物，而将其右边的USB介面可插入电脑的 USB插槽，配合Firecracker II所提供的软体程式， 使用者将可进行直接的测试或是除错等工作。

测试能力

SD Protocol Aware Tests

• Check CID Reg
• Check CSD Reg
• Check OCR Reg
• Check SCR Reg
• Check SD Status
• Functional Test

DC Measurements

• Open/Shorts
• ESD Diodes
• Power Up Idd
• Leakage

软体功能

• 使用者权限与密码管理
• 机台状况警示侦测系统
• 视觉化图解显示机台卡件错误发生区域
• 提供离线模拟执行模式
• 即时测试结果显示与更新
• 可个别指定或取消单一待测物之测试
• 测试良率与UPH资讯显示
• 多种良率监控指标设定
• 测试中机台开门中断保护功能
• 紧急停机控制功能
• 系统警示纪录保存功能

测，而不需要再对整个晶片进行完整的测 试。