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影响涂层测厚仪测量值精度的因素


  涂层测厚仪的影响因素的有关说明：

　　a 基体金属磁性质

　　磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对涂层测厚仪进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。

　　b 基体金属电性质

　　基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对涂层测厚仪进行校准。
　　
     c 基体金属厚度

　　每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。。
　　
      d 边缘效应

　　涂层测厚仪对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
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