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X荧光光谱仪技术资料
日期：2025-02-24 10:45
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摘要：
X荧光光谱仪技术资料
2.3 仪器技术指标 |
技 术 参 数 |
1、仪器尺寸：830(W)*530(D)*500(H)mm |
2、 样品腔尺寸： 小样品腔：300*300*100mm； 真 空 腔：ø 200*40 mm 大样品腔：无限制，小于30公斤 |
3. 1分钟真空度可达5Pa |
4、 重量：约100Kg |
5、 工作环境温度：温度15—30℃ |
6、工作环境相对湿度：≤70%（不结露） |
7、 可分析元素范围 ： Al-U（可以检测无卤元素Cl和Br） |
8、 *低检出限：Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm,Pb≤5ppm CL≤250ppm |
9、 测量时间 ：300-500s (系统自动调整) |
10、 *佳分辨率：149±5eV |
11、 输入电源：AC 220V±10%，50Hz |
11、额定功率：1500W |
三、X荧光光谱仪技术资料仪器硬件部分主体配置
3.1 探测系统 | |
1、探测器 类型：电制冷Si-PIN探测器 (采用PIN结构的高性能电致冷半导体探测器) 型号：X-123 制造商：美国Amptek公司生产 Be窗厚度：1mil(0.0254mm) *佳分辨率：149±5eV 系统峰背比：≥ 5000/1 能量响应范围：1keV ~ 40keV 推荐计数率：5000cps（DP4 Peaking Time=25.6us） 典型使用寿命：10年 2、信号处理系统 DP4（与探测器高度集成） 放大器增益自动调整； 脉冲成型时间自动调整； MCA通道数*高可达8K； 每一通道总计数可达24位（16.7M） | |
2.3 仪器技术指标 |
技 术 参 数 |
1、仪器尺寸：830(W)*530(D)*500(H)mm |
2、 样品腔尺寸： 小样品腔：300*300*100mm； 真 空 腔：ø 200*40 mm 大样品腔：无限制，小于30公斤 |
3. 1分钟真空度可达5Pa |
4、 重量：约100Kg |
5、 工作环境温度：温度15—30℃ |
6、工作环境相对湿度：≤70%（不结露） |
7、 可分析元素范围 ： Al-U（可以检测无卤元素Cl和Br） |
8、 *低检出限：Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm,Pb≤5ppm CL≤250ppm |
9、 测量时间 ：300-500s (系统自动调整) |
10、 *佳分辨率：149±5eV |
11、 输入电源：AC 220V±10%，50Hz |
11、额定功率：1500W |
三、X荧光光谱仪技术资料仪器硬件部分主体配置
3.1 探测系统 | |
1、探测器 类型：电制冷Si-PIN探测器 (采用PIN结构的高性能电致冷半导体探测器) 型号：X-123 制造商：美国Amptek公司生产 Be窗厚度：1mil(0.0254mm) *佳分辨率：149±5eV 系统峰背比：≥ 5000/1 能量响应范围：1keV ~ 40keV 推荐计数率：5000cps（DP4 Peaking Time=25.6us） 典型使用寿命：10年 2、信号处理系统 DP4（与探测器高度集成） 放大器增益自动调整； 脉冲成型时间自动调整； MCA通道数*高可达8K； 每一通道总计数可达24位（16.7M） | |
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