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HALT/HASS试验过程及方法

HALT/HASS试验过程及方法

对研制的产品来说，HALT/HASS是一个整体（美国Tandem计算机公司把HALT和HASS统称为加速应力试验AST）。HALT采用步进应力的方法进行试验，故HALT又称步进应力试验（美国波音公司把HALT和步进应力试验称为可靠性强化试验RET）。HALT试验过程就是以步进方式对产品施加一系列单应力（如多轴随机振动，温度循环，电应力等）和组合应力，并逐步增加强度直至产品失效的过程（HALT试验实例见附录C）。在HALT过程中对发生的每一个失效都进行根本原因分析（RootCauseAnalysis），不断进行试验、分析、验证和改进。HALT是进行HASS的前提，只有完成了适当的HALT，而且所发现的问题均已得到解决，才允许进行HASS。GreggK.Hobbs认为不管采用什么筛选方法，筛选过程总要消耗产品一部分疲劳寿命，如果使用应力和损坏应力之间的余量很小，就根本不能运用任何应力筛选方法进行筛选。因此必须根据HALT得到的工作极限和损坏极限，摸清产品的设计余量，以此来制订HASS方案，确定HASS的量级，以保证筛选所消耗的疲劳寿命的量是可以接受的。

产品从HALT到生产制造中的HASS，要完成HASS研究。“HASS研究”的目的是提供*快捷*有效的筛选。筛选的有效性是以充分激发产品缺陷又不过量消耗产品使用寿命（即不损坏好的硬件）的能力来度量的。HASS研究过程通常包括HASS夹具的设计、制造和鉴定，剖面研究和*后的筛选验证（Proof-of-Screen）。HASS夹具应能提供合适的振动传输率、热均匀性和均衡的温度变化率，以使每个试验部位应力量级的变化*小，振动能量从振动台面到被测单元的传递*大为*佳。剖面研究是要确定应力筛选的试验剖面，包括筛选选用的应力类型，应力量级，施加应力的顺序、保持时间等。筛选验证首先是要确定通过筛选检测制造缺陷的有效程度，其次是要证明产品经过筛选后不会过量消耗其使用寿命。剖面设计是一个反复实验的过程，委托的不间断电源（UPS）*初设计的HASS剖面和*终确定的HASS剖面。*初设计的*高剖面温度为83℃，*低剖面温度为-53℃，平均变温率为45℃/min，剖面的振动从5Grms到30Grms，剖面持续的时间为60min。*终确定的HASS剖面为*高剖面温度为83℃，*低剖面温度为-30℃，平均变温率为45℃/min，剖面的振动从5Grms到20Grms，剖面持续的时间仍为60min。

筛选验证完成后，产品就作好了进行生产制造筛选的准备。对每个产品在生产制造筛选过程中应连续监测。根据制造数据和现场数据，允许改变试验剖面，但每次变动前都必须仔细考虑和分析。如果筛选**了缺陷或突然出现高的失效率，都必须分析了解原因，根据需要可以修正剖面应力，但任何应力的变动都要求重新进行筛选验证，如果设计有较大变更，应重新做HALT。

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