您好,欢迎来到仪表展览网!
请登录
免费注册
分享
微信
新浪微博
人人网
QQ空间
开心网
豆瓣
会员服务
进取版
标准版
尊贵版
|
设为首页
|
收藏
|
导航
|
帮助
|
移动端
|
官方微信扫一扫
微信扫一扫
收获行业前沿信息
产品
资讯
请输入产品名称
噪声分析仪
纺织检测仪器
Toc分析仪
PT-303红外测温仪
转矩测试仪
继电保护试验仪
定氮仪
首页
产品
专题
品牌
资料
展会
成功案例
网上展会
词多 效果好 就选易搜宝!
北京埃谱科技
新增产品
|
公司简介
注册时间:
2008-03-28
联系人:
电话:
Email:
首页
公司简介
产品目录
公司新闻
技术文章
资料下载
成功案例
人才招聘
荣誉证书
联系我们
产品目录
高压物理吸附仪
真密度仪
孔径分析仪
比表面积测定仪
比表面积
当前位置:
首页
>>>
公司新闻
>
公司新闻
金埃谱公司受邀参加中国颗粒学会第七届学术年会
金埃谱公司受邀参加中国颗粒学会第七届学术年会
2010年
8月15-18日,中国颗粒学会第七届年会在西安举行,
作为新一届行业盛会,将汇集400多位专家学者、工程技术人员及企业界代表参加。
北京金埃谱科技公司总经理夏攀受邀将在“颗粒测试与应用”论坛做《比表面及孔径分析技术在粉体行业中的应用》的主题发言。
欲了解更多相关信息请致电我公司或在论坛现场与夏攀总经理做进一步交流。
金埃谱科技是国内*早参与比表面积标准物质研制及标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性*好,并获取权威认证机构的检测证书,同时金埃谱科技也是国内 同行业中注册资本规模*大,**通过ISO9001认证的企业,雄厚实力和完善的质量及服务体系,让您选购的产品无后顾之忧!
上一篇:
第十一届国际材联亚洲材料大会
下一篇:
质量认证
若网站内容侵犯到您的权益,请通过网站上的联系方式及时联系我们修改或删除