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产品资料

3504-60,3504-50,3504-40,C测试仪

3504-60,3504-50,3504-40,C测试仪
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简单介绍
3504-60,3504-50,3504-40,C测试仪
产品描述

主要特点
C、D 2项目测试 
能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容 
静电容量:*多可分成14类,能简单地根据测量值进行分类 
控制检测功能 
测试源频率: 120Hz, 1kHz 
高速测量: 2ms 
RS-232C, GP-IB
C测试仪
详细介绍
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
高速测量2ms 
能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断 
对应测试线,比较器功能/触发输出功能 
3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试 
3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试 
查出全机测量中的接触错误,提高成品率

基本参数
 
测量参数
Cs,Cp(电容),D(损耗系数tanδ
测量范围
C:0.9400pF20.0000mF
D:0.000011.99000
基本精度
(代表值)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
测定精度基本精度× B× C× D× E, BE为各系数
测量频率
120Hz, 1kHz
测量信号电平
恒定电压模式: 100mV (**3504-60) 500 mV, 1 V
测量范围:
CV 100mV:
 170μF 量程 (测量频率 1kHz),  1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 500mV: 
 170μF 量程 (测量频率 1kHz),  1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 1V: 
 70μF 量程 (测量频率 1kHz),  700μF 量程 (测量频率 120Hz)
输出电阻
CV测量范围以外的开路端子电压模式时)
显示
发光二级管6位表示,满量程计算器根据量程而定)
测量时间
典型值: 2.0 ms  1 kHz, FAST
测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
功能
BIN分类测量 (3504-40除外), 触发同步输出测量条件记忆测量值的比较功能平均值功能, Low-C拒绝功能振动功能控制用输出输入 (EXT. I/O), RS-232C接口(标配), GP-IB接口(3504-40除外)
电源
AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, *大110VA
体积及重量
260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件
电源线×1,预备电源保险丝×1,使用说明书×1
(不能单独使用,测量时需要选用测试冶具或探头)
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