一、用途
XPV-203E/XPV-203Z 透反射偏光显微镜及熔点测定系统是地质、矿产、冶金、石油化工、化纤、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校高分子等专业*常用的专业实验仪器。透反射偏光显微镜可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察及显微摄影，观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化。透反射偏光显微镜采用微电脑检测，有自动P、I、D调节及模糊手动调节功能，通过LED显示温度值及设定温度值，仪表显示准确、清晰、稳定，对温度控制可设定程序，设有“上、下”限自动报警装置，并可随时检查设定的温度数据，是新一代熔点测温、控温装置。显微镜配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件。本仪器具有可扩展性，可以接计算机和数码相机，对图片进行编辑、保存和打印。是一组具有较完备功能的新型产品。
二、系统简介
透反射偏光显微镜系统是将精密的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、**的计算机图像处理技术**地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。透反射偏光显微镜可以在显示屏上很方便地观察实时动态图像，并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。
三、技术参数：
1.目镜： 类 别 放大倍数 视场（mm）
网格目镜10X φ18
十字目镜10X φ18
分划目镜10X φ18
2.物镜： 类 别 放大倍数 数值孔径（NA） 工作距离（mm） 盖玻片厚度（mm）
物 镜4X 0.107.80-
10X 0.254.70-
25X 0.401.750.17
40X 0.650.720.17
63X 0.850.180.17
3.放大倍数：40X-630X 系统放大倍数：40X-2600X
4.聚光镜数值孔径：NA1.2/0.22 摇出式消色差聚光镜，中心可调。
5.起偏镜：振动方向360°可调，带锁紧装置，可移动光路
6.检偏镜:可移出光路，旋转范围90°内置勃氏镜，中心、焦距可调
7.补偿器：λ片(φ18mm，**红，光程差551nm) λ/4片（φ18mm, 光程差147.3nm）
石英楔子(12x28mm，Ⅰ-Ⅳ级)
8.调焦系统：带限位和调节松紧装置的同轴粗微调，格值为0.002mm
9.电光源：6V/20W卤素灯（亮度可调）
四、反射照明、同轴照明器（又名垂直照明器）
同轴照明器又名垂直照明器，它是显微镜垂直照明系统，系统系数1倍，可适配与各型号的普通（160mm机械筒长，斜筒式）显微镜 。可作为反射光照明系统下观察不透明物体表面细微结构。
垂直照明装置配置与显微镜上不仅能进行一般金相分析、微粒分析测试还可以对非金属不透明物体进行分析、观察而且配有偏光系统，作偏光观察。
五、系统组成
透反射偏光显微镜（XPV-203E）：1、偏光显微镜2、同轴照明器3.摄像器(CCD)4.A/D(图像采集)5、计算机
透反射偏光显微镜（XPV-203Z）：1、偏光显微镜2、同轴照明器4、数码相机系统
六、选购件 打印此栏样本
1、高像素成像系统 2.偏光显微镜分析软件