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Tektronix（泰克）上海测试测量方案中心开幕
Tektronix（泰克）上海测试测量方案中心开幕
 
中心将展示面向高速串行数据技术的*新分析、验证和一致性测试解决方案
 
中国北京，2009年1月13日讯 – 全球**的测试、测量和监测仪器提供商--泰克公司日前宣布，其在上海*新成立的测试测量方案中心正式开幕。中心将向客户演示泰克为*先进高速串行数据技术提供的各种**测试解决方案。泰克技术专家将提供现场技术支持，讨论实际应用案例，为客户提供具有针对性的高速串行测试实用指导。
上海测试测量方案中心是除美国加利福尼亚州圣克拉拉、日本东京和中国台北的中心以外，泰克*新成立的又一家解决方案中心。
上海测试测量方案中心配备了*新的示波器、信号源、逻辑分析仪、探头和相关应用软件，将展示面向高速串行技术的分析、验证和一致性测试综合解决方案，如HDMI、DisplayPort、SATA、PCI Express、DDR、USB和以太网。
 
“当前的设计工程师们每天都面临着技术的快速革新以及复杂度的不断提高。”泰克公司亚太区市场总监James Alderton说，“上海测试测量方案中心的成立，将使中国的设计工程师们能够利用泰克在标准机构中发挥的作用以及泰克公司*新的测试解决方案，缩短串行数据设计周期，进而加快产品开发速度，降低整体产品开发成本。”
 
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