X荧光能量色散光谱分析仪.1探测系统
1、探测器
制造商：美国Amptek公司生产
类型：电制冷Si-PIN探测器
(采用PIN结构的高性能电致冷半导体探测器)
型号：XR-100CR
Be窗厚度：1mil(0.0254mm)
*佳分辨率：149±5eV
系统峰背比：≥ 5000/1
能量响应范围：1keV~40keV
推荐计数率：5000cps（DP4 Peaking Time=25.6us）
2、信号处理系统 DP4（与探测器高度集成）
放大器增益自动调整；
脉冲成型时间自动调整；
MCA通道数*高可达8K；
每一通道总计数可达24位（16.7M）
2.2高压电源
图 片
生 产 商：美国Spellman公司生产
型号：MNX50P50
输入电压: DC +24V±10%
输入电流：4.0A（*大）
输出电压: 0 -50Kv @ 1mA
*大功率：50W
电压调整率：0.01% （从空载到满载）
电流调整率：0.01% （从空载到满载）
纹波系数：0.1% （P-P值）
2.3 X光管
制 造 商：辽宁丹东科维
电 压: 0~50 kV
*大电流: 1.0 mA
*大功率: 50 W
灯丝电压: 2.0V @ 50 kV/1mA
灯丝电流: 1.7 A
射线取出角：12°
靶 材：Mo
Be窗厚度：0.5mm
2.4微动平台与高分辨率CCD
载物测试平台，配有微调装置，可方便的实现检测物的定位与检测区域的调整。
120万像素的CCD摄像头，可有效的实时观察测试区域状况，并拍下物料照片，作为检测报告的组成部分。
2.5散热系统
高效三维散热系统，大幅度提供仪器的可靠性、稳定性
2.6防辐射**系统
三重射线防护系统（软件联锁、硬件联锁、整机迷宫式设计），开盖测试自动警示系统。
2.7仪器操作软件功能
1、可以对RoHS指令中的五种有害元素（Pb，Cd，Hg，Br，Cr）卤数（Br，Cl）进行精准测试；
2、分析方法：综合应用经验系数法、基本参数法；
3、开放性工作曲线：用户可很方便的建立针对性的风险物料专用曲线，提高工作曲线
与风险物料的对应性，从而**提高检测精度，提高允收判定的准确性。
4、分析报告：多种语言格式(简体中文 繁体中文 英文等)及文档格式报告，如Excel、
PDF等，预设标准模板，用户还可自定义模板格式，所有文档可自由打印和保存；
5、数据自动保存：所有样品测试后的数据均会自动保存，测试结果具有可追溯性；可以
很方便的进行历史谱图与现测谱图的对比，从而发现来料的变化趋势，建立更高的风险
防范能力。
6、稳定性自检功能：可即时对仪器当前稳定性进行自动测试；
7、软件**联锁，对误操作等造成的辐射泄露实现即时的X射线切断处理。保证操作人
员意外辐射**。
8、操作界面多语种:英语、简体中文、繁体中文等。
2.8升级与选配
1、用户另行购置镀层测厚软件，可进行镀层测试；
2、用户另行购置六价铬测试仪可实现六价铬定量检测；
2.9仪器技术参数
1、 仪器尺寸：640(W)x474(D)x412 (H)mm
2、 样品腔尺寸：小样品腔：300*300*100mm； 大样品腔：无限制，小于30公斤
3、 重量：约48Kg
4、 工作环境温度：温度15—30℃
5、 工作环境相对湿度：≤85%（不结露）
6、 可分析元素范围 ： Cl-U
7、 *低检出限：Cd/Cr/Hg/Br≤2 ppm ,Pb≤5ppm Cl≤60ppm
8、 测量时间 ：120-200s ( 系统自动调整 )
9、 *佳分辨率：149±5eV
10、 输入电源：AC 220V ± 10%，50Hz
11、 额定功率 ：350W
2.10光路优化系统
采用新型光路设计，既能保证Cl检测所必需的*短光程，同时又可保证CCD拍摄样品图像的完整。
三、其他标配
3.1计算机
生 产 商：方正**商务电脑P4 3.0GHz/512M/80G/17寸液晶
打 印 机：彩色喷墨打印机
3.2标准物质配置
图片
欧盟标准ERM®-EC680K 一个 标配
欧盟标准ERM®-EC681K 一个 标配
银校准样品 一个 标配