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手持合金分析仪 XL2是一种XRF光谱分析技术，X光管产生的X射线打到被测样品时可以击出原子的内层电子，出现壳层空穴，当外层电子从高轨道跃迁到低能轨道来填充轨道空穴时，就会产生特征X射线。X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光信号转换成易于测量的电信号来得到待测元素的特征信息。

仪器特点：

便携、高效、准确可以在质量控制、材料分类、合金鉴别、事故调查等现场应用。

选配小点瞄准模式，可检测被检测面积较小的样品，如：焊点、焊缝。

高性能硅漂（SDD）探测器（25平方毫米），即可分析Mg、Al、Si、P等轻元素。

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