便频抗干扰介质损耗测试仪是一种新颖的测量介质损耗角正切（tgδ）和电容值（Cx）的自动化仪表。可以在工频高电压下，现场测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗角正切（tgδ）和电容值（Cx）。与西林电容电桥相比，便频抗干扰介质损耗测试仪具有操作简单、自动测量、读数直观、无需换算、精度高、抗干扰能力强等优点。由上海来扬研制开发 a.便频抗干扰介质损耗测试仪具有多种测量方式，可选择正/反接线、内/外标准电容器和内/外试验电压进行测量。正接线可测量高压介损。
b.便频抗干扰介质损耗测试仪内附SF6标准电容器，tgδ<0.005%,受空气湿度影响小。
c.矢量运算法结合移相、倒相法，抗干扰效果好；能有效地消除强烈的电场干扰对测量的影响，适用于500kV极其以下电站的强干扰现场试验。
d.高压短路和突然断电时，仪器能迅速切断高压，并发出警告信息。
e.测量重复性好，电压线性好（测量准确度不受电压影响）
f.一体化结构，重量适中，便于携带。
g.便频抗干扰介质损耗测试仪大屏幕带背光中文液晶显示器信息提示操作，使用方便。
h.仪器自带打印机，及时保存测试数据。
i.高压电缆连接至试品，保障**；仪器未接地报警，**措施完备。
技术指标
环境温度：0~40℃（当温度超出20℃±5℃时，每变化10℃仪器基本误差的改变量不超过基本误差限的1/2。）
相对湿度：30%~85%
供电电源：电压：220V±22V,频率：50±1Hz
电子电路功耗：不大于40VA
测量范围：
介质损耗（tgδ）:0~1 分辨率0.0001
电容量（Cx）: *小分辨率0.01PF
内接方式
试验电压 试品电容量
5KV 7.5KV 10KV 3PF~40000PF
1.5KV 2.25KV 3K 10PF~0.35μF
0.5kV 0.75kV 1kV 30PF~1.5μF
外接方式
“外接升压器”方式*高试验电压10KV;
“外接Cn”方式（外接高压、外接标准电容器）*高试验电压由标准电容器和被试品决定（Umax=Imax/ωC）;
标准回路*大电流50mA(In=UωCn) ；
被试回路*大电流2A（Ix=UωCx）。
基本测量误差
产品在环境温度20℃±5℃、相对湿度30%~85%的条件下，应符合表1之规定。
表1
测量内容
tgδ范围
电容量范围（Cx）
试品类型
基本误差
介质损耗因数tgδ
0~0.5
50pF~60000pF
非接地
±(1%读数+0.0005)
接地
±(1%读数+0.0010)
10pF~50pF或60000pF以上
±(2%读数+0.0020)
3pF~10pF
非接地与接地
电容量
50pF以上
±(1%读数+1pF)
50pF以下
±(1%读数+2pF)