数控光栅尺- LAM、LAP、LAD

数控光��尺- LA 系列LA、LAS、LAF、LAM、LAP、LAD、LAD+EC-PA-DQ、LAB

为高速高精度应用场合* 门设计.

* 用的安装系统确保光栅尺与所在的机床安装表面具有一致的热膨胀系数。光栅尺两端的浮动工装固定在机床表面、由拉伸装置张紧蚀刻钢带。这种安装方法有效消除由于温度变化引起的误差、确保精度和重复定位精度。

钢带尺的刻线栅距为0.04 mm. 测量长度* 过4 040 mm（需要多节）.

测量长度mm
• 测量长度从440 mm到50 m，每递增200 mm为一个规格。如果需要更长的测量长度，请联系发格自动化特殊定制。

型号说明:
LA: 数控光栅尺 SSI通信协议 连接FAGOR设备或其他厂商同协议设备
LAS: 数控光栅尺 SSI通信协议 连接SIEMENS® (Solution Line)设备
LAF: 数控光栅尺 FANUC® (01 and 02)通信协议
LAM: 数控光栅尺 MITSUBISHI® CNC 通信协议
LAP: 数控光栅尺 PANASONIC® (Matsushita) 通信协议
LAD: 数控光栅尺 FeeDat 通信协议 连接FAGOR设备或其他厂商同协议设备
LAD + EC-PA-DQ: 数控光栅尺 DRIVE-CLiQ® 通信协议 连接SIEMENS® (Solution Line)设备

LAB : 数控光栅尺 BiSS® 通信协议

数控光栅尺- LA 系列

技术参数

	LA	LAS	LAF		LAM		LAP		LAD		LAD+EC-PA-DQ		LAB
测量	增量式: 刻线栅距40 μm不锈钢钢带 jue对式: 光学成像读取二进制代码序列
钢带热膨胀系数	αtherm: 11 ppm/K aprox.
分辨率	0,1 μm	1 μm	Interface α	Interface αi	0,01 μm	0,05 μm	0,01 μm	0,05 μm	0,01 μm	0,05 μm	0,01 μm	0,05 μm	0,01 μm	0,05 μm
			0,05 μm	0,0125 μm
			0,01 μm	0,0025 μm
输出信号	1 Vpp		–		–		–		–		–		–
增量信号周期	40 μm		–		–		–		–		–		–
*制频率	< 50 KHz para 1 Vpp		–		–		–		–		–		–
电缆长度	75m (*)	100 m	30 m		30 m		30 m		30 m		30 m		30m (*)
供电电压	5 V ± 10%, <250 mA (without load)
钢带精度	± 5 μm/m
速度	120 m/min		180 m/min		180 m/min		180 m/min		180 m/min		180 m/min		180 m/min
抗震性能	100m/s2
抗冲击性能	300m/s2 (11 ms) IEC 60068-2-27
加速度	100m/s2 沿测量方向
移动阻力	< 5 N
工作温度	0 ºC … 50 ºC
存储温度	-20 ºC … 70 ºC
重量	1,50 kg + 4 kg/m
相对湿度	20 … 80%
保护	IP 53 (标准) IP 64 (DIN 40050) 需通入0.8 ± 0.2 bar压缩空气
读数头	嵌入式插头 读数头两端均可连接

单模块数控光栅尺- LA 系列:

多模块数控光栅尺- LA 系列:

(*): EC-PA-DQ1 和 DRIVE-CLiQ® 协议用于 SIEMENS® (Solution Line)

• FeeDat® 是Fagor Automation的注册商标
• DRIVE-CLiQ® 是 SIEMENS® Aktiengesellschaft的注册商标
• SIEMENS® 是 SIEMENS® Aktiengesellschaft的注册商标
• FANUC® 是 FANUC® Ltd.的注册商标
• MITSUBISHI® 是 MITSUBISHI® Shoji Kaisha, Ltd.的注册商标
• PANASONIC® 是 PANASONIC® Corporation的注册商标
• BiSS® 是IC-Hauss GmbH的注册商标

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