石英晶体微平衡技术：**、可靠、可校准。
需求 有很多危险的石化和工业过程要求水分含量在ppmv以下。这种超低的水分含量需求可能是为阻止NGL回收或石蜡生产热交换和涡轮过程中结冰。对气体或者生产自气体的终产物而言，水分可能也是一个污染物，就像乙烯的情况。 几乎总是这样，分子筛干燥器用于除去低至甚至低于ppmv值的水分。由于过量水分会导致过程和质量问题，必须不断监测分子筛干燥器的操作。不幸的是，传统的湿度探针有很多其与生俱来的局限性对在这些应用中的精度和稳定性造成了影响。因为探针不能验证它们的精度和对水分的响应，操作者总是怀疑探针的读数是否正确。 强烈的需要这样一款**、可靠、灵敏的水分分析仪，能够校验自身**性以保证操作者获得数据的真实有效。
解决方案 3050-SLR型是一款防爆的水分分析仪，特别为在临界、零到一ppmv的超低量程增加精度所设计。3050-SLR通过使用石英晶体技术可提供所需的极其**值。 3050-SLR型分析仪可以直接测量ppmv，ppmw的水分浓度或每标准体积的水分重量。浓度读数和精度与过程压力或温度是完全独立的。 3050-SLR配备了对其精度和对水分灵敏度的自我校验能力。因为附带了内置零模式和内在的水分发生器，您可以完全信赖3050-SLR所提供的数据。利用可编程时间表或者当您感觉有必要时，就可以发送您的过程气体通过3050-SLR的内在零气体发生器和它内置的水分发生器，获得基于实际样品气体的零参考和量程校准标准。 在校验过程中，3050- SLR 本身可自动回零。然后它自动将其水分测量与可溯源至NIST的内在水分发生器的输出值比较。如果有需要，分析仪自动对其刻度作小的修正。 如果3050-SLR存在内在错误或不能自我校准测试，分析仪将会发出数据无效报警，从而立即向操作员报告问题。使用3050-DO，您将可以对样品气体中存在的水分含量**可重现的测量永远放心。
主要特点 技术：石英晶体微平衡 量程： 0.1至2500 ppmv。可读出ppmw，lb/mmscf，mg/Nm3和露点F或C度（需要过程压力作为输入）。 在线校准：无需卸载分析仪，带可溯源至NIST校准内在水分源可提供精度和重现性的随需应变型校准。校准功能可用电压信号远程触发。 精度：±0.03 ppmv或0.1至2500 ppmv读数的±10% 可靠性：由于QCM传感器高稳定可靠的本性，无需工厂的常规校准 气流需要：大约150 sccm。为增加响应速度旁通流道大约1.0 slpm
输出：独立的4至20 mA的模拟信号，可选键盘；分辨率12位（0.025%），RS-232和RS-485系列通信端口 报警：三触点闭合；浓度，系统和数据有效报警 危险地区等级：NEC/CEC Class I，Division 1，Group B，C，D T6和CENELEC Zone 1 IIC T6 阿美特克公司是石英晶体技术的**者，三十年间与其它的测量技术相比占据了重大的优势：
•这是一款***的可用微量水分测量技术之一 •对增加或降低的水分含量响应异常迅速 •在诸多应用中对水分有特效 •提供功能更强劲的传感器
因为这些优势，石英晶体振荡器已变成工业标准，广泛应用于从超纯半导体气体到含30% H2S的天然气流的测定。如今，3050-SLR带着石英晶体技术的优势广泛应用于低浓度水分的测量。