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美国TSI 扫描电迁移率颗粒物粒径谱仪(SMPS-3936)

美国TSI 扫描电迁移率颗粒物粒径谱仪(SMPS-3936)
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  • 产品名称:美国TSI 扫描电迁移率颗粒物粒径谱仪(SMPS-3936)
  • 产品型号:美国TSI 扫描电迁移率颗粒物粒径谱仪(SMPS-3936)
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简单介绍
美国TSI 扫描电迁移率颗粒物粒径谱仪(SMPS-3936) 3936-SMPS (Scanning Mobility Particle Sizers) 是一种用来测量粒径在3~1000nm范围内的超细气溶胶颗粒的高科技产品。它采用一种静电分级器来测量颗粒物尺寸,并采用凝聚粒子计数器(CPC)来测定颗粒物的浓度。SMPS系统的主要优点有: 快速结果:在60s甚至更短的时间内完成颗粒物粒径分布的扫
产品描述
美国TSI 扫描电迁移率颗粒物粒径谱仪(SMPS-3936)
3936-SMPS (Scanning Mobility Particle Sizers) 是一种用来测量粒径在3~1000nm范围内的超细气溶胶颗粒的高科技产品。它采用一种静电分级器来测量颗粒物尺寸,并采用凝聚粒子计数器(CPC)来测定颗粒物的浓度。SMPS系统的主要优点有:
快速结果:在60s甚至更短的时间内完成颗粒物粒径分布的扫描;
高分辨的数据:扫描是连续的,因此在数据分布上不存在间隙。总测量通过为162个,每十进范围64个通道,SMPS系统可为任何超细微粒粒径测定提供*高的准确度。
   宽的粒径范围:应用多样性的3080系列静电分级器和凝聚粒子计数器,SMPS系统可提供3~1000nm范围内的颗粒物粒径测量。
   宽的浓度范围:SMPS系统可在1~10的8次方个/立方厘米范围之间进行浓度扫描。
   操作简单:静电分级器配有内置前通道面板和控制把手,允许用户通过快速设定进行扫描,并监测或控制仪器功能。
   实时数据显示:3936系列的分析软件(AIM3936)可在微软Windows操作系统下工作(参见计算机配置部分),操作简单,并可实时显示各种图形、表格和统计数据。
   TSI 提供了多种标准SMPS配置。粒径和浓度范围将因所选择的DMA 和CPC而异。要决定哪种SMPS适合自己,请参考上页的配置表格以及本手册*后的定购部分包括DMA电迁移分级器、CPC粒子计数器与控制系统。


技术参数:
主要技术参数:
• 粒径范围:0.003~1μm
• *大颗粒物浓度:108#/cm3
• *高分辨率:162通道
• 测量周期:60~600 sec
• 操作温度:10~35℃
• 操作压强:100±20 kPa


主要特点:
主要特点:
• 快速结果:60s内完成全扫描
• 高分辨率:162通道
• 浓度范围宽:0.003~1μm
• 粒径范围宽:1~108#/cm3
• 模块化部件:DMA和CPC可单独使用
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