Nexview™650
超大尺寸样品 光学轮廓仪
“大” 样品台光学轮廓仪,Nexview™650,就是为这个 “大” 字设计的。
光学轮廓仪常用于粗糙度,纹理,微结构测量;其单次量测范围在毫米级别,测量结果一般都以纳米,微米为单位。
虽然测试区域小,测试结果达到纳米级,有时样品却很大。比如 模压透镜的注塑模具、PCB电子线路板、各种大尺寸玻璃面板,要么尺寸达到米级,要么重量上百公斤,标准光学轮廓仪的样品台无法满足要求;
Nexview™650就是为 超大尺寸,超重的样品;纳米级高精度,工业自动化量测而设计的。
配置现场保护机箱的 Nexview™650
-大尺寸
Nexview™650样品台X/Y平移范围650mm*650mm,承重不低于100Kg;标准配置下*大样品高度260mm;满足大尺寸,超重样品的测试要求。
-高精度
Nexview™650测试头基于ZYGO Nexview™2系统,它是ZYGO光学性能*好,精度*高,自动化程度*高的光学轮廓仪型号。
SureScan™ 抗振扫描技术,在工业生产环境中,良好控制环境振动的影响,达到纳米级,亚纳米级测量不确定度。
-自动化
Nexview™650配置带编码反馈的高速X/Y位移台,快速可靠。Mx软件自带各种标准控制接口,可用于工业自动化二次编程开发。
需要了解更多 大尺寸样品粗糙度,纹理测量 的应用信息么?
赶紧和我们联系吧!
上海浦量元精密机电有限公司
TEL:
www.shplytech.com.cn
沪公网安备 31011502007567号