半导体硅片检查用显微镜

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	半导体硅片检查用显微镜	半导体硅片检查用显微镜MX51 规格: 放大倍数：50×、100×、200×、500×、1000X; 物镜种类：平场半复消色差物镜，萤石材料；观察方法：明场、暗场、偏振光；

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