美国GE SEB4-0°双晶直探头

深圳华清仪器仪表有限公司

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美国SEB4-0°双晶直探头

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美国GE SEB4-0°双晶直探头

特性

独立的声波发射和接收单元

纵波垂直传输

小焦距探头具有非常好的近场分辨率

使用耐磨的塑料延迟块，即使在粗糙或弯曲的表面也能很好耦合性

延迟块由一个金属环保护以防磨损

在焦点内特别适合剩余壁厚的测量

加上特殊的延迟块（定制产品）能够在高温表面测量

应用

SEB..
用于探测棒材、坯块、轴、杆等中心缺陷，经常用作在中等和大尺寸物体（如锻造或铸造的物体）中关键部位小缺陷的探测（如气孔、微孔和热裂缝）。更适用于平行物体表面的缺陷定位（如层状结构缺陷、渣孔以及厚钢板中的分隔线）。

SEB1铜棒中心缺陷

MSEB..
常用于所有类型小零件（如螺杆、螺钉、螺母、销钉、轴承环、轴承和装配材料）的检测，也可用于壁厚和剩余壁厚的测量（如被腐蚀和侵蚀的管子、容器和机械零件）。

MSEB5弯曲处剩余壁厚的测量

MSEB4金属融渣裂缝

SEB..KF

体积小巧的小直径特殊探头，用于近表面小缺陷的探测。小巧的形状使这种类型的探头可以用于一些特殊位置或者不易接近位置的检测。

SEB10KF3插口焊接点

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