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l 測量範圍從波束觸及罐低的那壹點開始計算，但在特殊情況下，若罐低為凹型或錐形，當物位低於此點時無法進行測量。

l 若介質為低介電常數當其處於低液位時，罐低可見，此時為保證測量精度，建議將零點定在低高度為C 的位置。

l 理論上測量達到天線**的位置是可能的，但是考慮到腐蝕及粘附的影響，測量範圍的終值應距離天線的**至少100mm。

l 對於過溢保護，可定義壹段**距離附加在盲區上。

l *小測量範圍與天線有關。

l 隨濃度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以將其反射，但在壹定的條件下是可以進行測量的。

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