测量精度 Z：±(2.5+0.5×|H|)μm以下 H：位移(mm) X：±(2.5+0.02L)μm以下 L：测量长度(mm) 解决 Z：0.25μm X 刻度：0.1μm 采样次数/*小间隔 *大64,000点/*小0.5μm 测量范围 Z：30毫米 X：50毫米 显示倍率 垂直（Z）、水平（X）：1～2,000次 株式会社小坂研究所是精密测量仪器和其他工业设备的制造商和开发商。
公司成立于 1950 年，70 年来一直致力于精密测量仪器、工业泵和食品包装机械三个领域的设备开发和制造，以满足各种需求，其技术能力不亚于大型制造商。
从能源领域到普通家庭使用的消费品，该公司开发了多种独特的制造产品，并凭借长期积累的专有技术与许多大公司建立了业务往来。