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氧化诱导期检测仪 时间分析仪

氧化诱导期检测仪 时间分析仪
  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:氧化诱导期检测仪 时间分析仪
  • 产品型号:
  • 产品展商:万吉
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简单介绍
氧化诱导时间测定仪是在程序控制温度下,测定物质氧化诱导时间的专业设备,是测定管材氧化诱导期的专业仪器。可以自动计记录管材、材料在氮气气氛中以恒定速度加热式样及参比物,当达到温度时,气氛切换为相同流速的氧气。之后样品在该温度下恒温,直到热曲线上显示有氧化反应发生。从氧气流开始流入的时刻,到发生氧化反应的时间间隔,既为氧化诱导期。仪器可以自动记录氧化诱导期温度、时间曲线,还可测量物质与参比物之间的温度差与温度关系。自动记录描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。还可以检测相转变,熔化,结晶结构的转变,沸腾,升华,蒸发,脱氢反应,断裂或分解反应,氧化或还原反应,晶格结构的破坏和其他化学反应。
产品描述

WJR-200AM氧化诱导时间测定仪


氧化诱导时间测定仪产品介绍:
氧化诱导时间测定仪是在程序控制温度下,测定物质氧化诱导时间的专业设备,是测定管材氧化诱导期的专业仪器。可以自动计记录管材、材料在氮气气氛中以恒定速度加热式样及参比物,当达到温度时,气氛切换为相同流速的氧气。之后样品在该温度下恒温,直到热曲线上显示有氧化反应发生。从氧气流开始流入的时刻,到发生氧化反应的时间间隔,既为氧化诱导期。仪器可以自动记录氧化诱导期温度、时间曲线,还可测量物质与参比物之间的温度差与温度关系。自动记录描述样品与参比物之间的温度(T)随温度或时间的变化关系。还可以检测相转变,熔化,结晶结构的转变,沸腾,升华,蒸发,脱氢反应,断裂或分解反应,氧化或还原反应,晶格结构的破坏和其他化学反应。


氧化诱导时间测定仪技术参数
1.
温度范围室温~1150 
2.
量程范围: 0~±2000μ
3. DTA
精度±0.1μ
4.
升温速率: 160/min 
5.
温度分辨率: 0.1 
6.
温度准确度: ±0.1 
7.
温度重复性: ±0.1 
8.
温度控制升温:程序控制     可根据需要进行参数的调整
            
降温:风冷 程序控制 *可选配 半导体冷却系统、液氮冷却系统 等
            
恒温:程序控制     恒温时间任意设定
9.
炉体结构炉体采用上开盖式结构,代替了传统的升降炉体,精度高,易于操作
10.
气氛控制(选配)气体流量计,气氛转换装置
11.
数据接口: RS-232串口通讯  配套数据线和操作软件
12.
主机显示: 汉字大屏液晶显示
13.
参数标准: 配有标准物,用户可自行对温度进行校正
14.
基线调整: 用户可通过基线的斜率和截距来调整基线
15.
工作电源: AC 220V  50Hz

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