纳米压入测试仪是市场上现有的*精准的纳米与超纳米级别的压入测试仪。
纳米压入技术属于*近研究的深度感应压入(DSI)测试的成果。在测试过程中,计算机对针头压入材料过程中的穿透深度与加载载荷进行实时记录,监测数据由坐标曲线形式显示出来进行分析并得出相关结果。这项技术已被广泛的应用于研究材料纳米尺度的机械性质,尤其是材料硬度与弹性模量。
因为我们要测量的深度在纳米尺度,载荷为微牛顿级别,所以仪器上测量深度与载荷的传感器的精度就尤为重要,因为这两者的测量误差直接影响*后的测量结果。CSM的超纳米压入测试仪针对这两方面的测量做出了跨时代的设计,具有超高测试分辨率和超低的热漂移影响。
纳米压入测试仪特点;
主动参比测量设计 超高热稳定性 深度与载荷信号的电容传感器测量 双压电加载装置(更加可靠的设计) 双载荷传感器(闭环力反馈系统) 符合国际标准ISO和ASTM 集成自动光学测量系统 带有反馈系统的载荷加载装置 仪器操作系统软件包