产品目录
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- DELCOM薄膜电阻计
- FSM
- Schmitt 粗糙度测量仪
- MicroSense振动样品磁强计
- MicroSense电容式位移传感器
- Herzan
- Herz 防振台 隔振台
- Filmetrics光学膜厚测量仪
- 美国4D动态光学干涉仪
- Chaona 3D光学轮廓仪
- FEI 电子显微镜
- Imago 三维原子探针
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- BeneQ
- Bruker 能谱系统
- SNU
- WaveCatcher场地测量服务和工具
- 主轴跳动误差分析仪 主轴运动误差测试系统 主轴误差分析仪
- MKS流量计
- MKS压力计
- MKS残余气体分析仪
- MKS远程等离子体源
- SCI 等离子清洗设备
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SEMICON & SOLARCON CHINA 2010
日期：2024-11-22 08:23
浏览次数：1785
摘要：
岱美诚挚地邀请您参加 SEMICON & SOLARCON CHINA2010半导体展览会，今年岱美将与EVG，Filmetrics 和MicroSense合办两个展台，欢迎您光临查询。SEMICONChina是目前中国半导体业界****的展览，有超过1100家来自世界各地的参展商，在这里展示和比较各自的产品和服务。展览同期举办技术和商业研讨会。欲了解详情，您可以登录以下网址查询：
www.semi.org/scchina-cn/
www.semi.org.cn/solarconchina/
日期：2010年3月16日到18日
地点：上海新国际博览中心，上海市龙阳路2345号
SEMICON
EVG 和岱美合办：4号馆4101号展位
SOLARCON
Filmetrics，MicroSense和岱美合办：5号馆5115号展位