产品目录
- EVG 晶圆封装工艺设备
- DELCOM薄膜电阻计
- FSM
- Schmitt 粗糙度测量仪
- MicroSense振动样品磁强计
- MicroSense电容式位移传感器
- Herzan
- Herz 防振台 隔振台
- Filmetrics光学膜厚测量仪
- 美国4D动态光学干涉仪
- Chaona 3D光学轮廓仪
- FEI 电子显微镜
- Imago 三维原子探针
- BrightSpot
- AEP
- BeneQ
- Bruker 能谱系统
- SNU
- WaveCatcher场地测量服务和工具
- 主轴跳动误差分析仪 主轴运动误差测试系统 主轴误差分析仪
- MKS流量计
- MKS压力计
- MKS残余气体分析仪
- MKS远程等离子体源
- SCI 等离子清洗设备
- Simax 步进式光刻机
- CERES
- CETR
- CleanLogix
- Dover
- Essemtec
- First Nano
- Gatan
- Honda Electronics
- Imago
- Invenious
- Kayex
- Laser Prismatics
- LESCO
- MAT
- mks
- n&K Technology
- nPoint
- Polyteknik
- ShB
- Solar Metrology
- SST
- Tailor
- Tau Science
- Thermo Noran
- VIC
- WestBond
- 其它
- 二手仪器及零件
联系我们
中文网站:www.dymek.cn
上海分公司:
021-38613675/38613676
东莞分公司:
0769-89818868
北京分公司:
010-62615731/62615735
香港总公司:
00852-24153601
新闻详情
岱美拿到采购Filmetrics-F30在线测试膜厚及沉淀速率设备的订单
日期:2024-11-22 08:06
浏览次数:1545
摘要:
岱美公司拿到采购Filmetrics-F30系列在线测试膜厚及沉淀速率设备的订单。客户是一所国家“211”重点高校,该设备主要应用于该高校的“照明工程”项目重点课题组,该设备应用于该所该重点课题组主要研发设备MOCVD上,并承担全部的的重点检测任务。订单已于2010年4月初完成。
美国Filmetrics公司生产的薄膜厚度测量仪利用光谱反射的原理,测量精度达到埃级的分辩率,测量快,操作简单及*具性价比的薄膜厚度测量设备。设备测量范围从近红外到紫外线,波长范围从215nm到1700nm,测量厚度从10A到350um范围。凡是光滑的,透明或半透明的,或是对光有吸收的膜层都可以测量。
同时我们根据相关科研前沿的客户相关需求,开发研制了F30系列,主要应用于相关的在线薄膜厚度实时测试及相关设备动态沉淀速率的动态实时检测,此设备可实现多波段检测及客户感兴趣的任意单一波段实时检测,同时该设备具备其他型号的静态检测功能。