产品目录
- EVG 晶圆封装工艺设备
- DELCOM薄膜电阻计
- FSM
- Schmitt 粗糙度测量仪
- MicroSense振动样品磁强计
- MicroSense电容式位移传感器
- Herzan
- Herz 防振台 隔振台
- Filmetrics光学膜厚测量仪
- 美国4D动态光学干涉仪
- Chaona 3D光学轮廓仪
- FEI 电子显微镜
- Imago 三维原子探针
- BrightSpot
- AEP
- BeneQ
- Bruker 能谱系统
- SNU
- WaveCatcher场地测量服务和工具
- 主轴跳动误差分析仪 主轴运动误差测试系统 主轴误差分析仪
- MKS流量计
- MKS压力计
- MKS残余气体分析仪
- MKS远程等离子体源
- SCI 等离子清洗设备
- Simax 步进式光刻机
- CERES
- CETR
- CleanLogix
- Dover
- Essemtec
- First Nano
- Gatan
- Honda Electronics
- Imago
- Invenious
- Kayex
- Laser Prismatics
- LESCO
- MAT
- mks
- n&K Technology
- nPoint
- Polyteknik
- ShB
- Solar Metrology
- SST
- Tailor
- Tau Science
- Thermo Noran
- VIC
- WestBond
- 其它
- 二手仪器及零件
联系我们
中文网站：www.dymek.cn
上海分公司：
021-38613675/38613676
东莞分公司：
0769-89818868
北京分公司：
010-62615731/62615735
香港总公司：
00852-24153601
新闻详情
岱美拿到国际有名眼镜制造业龙头企业采购FILMETRICS 膜厚测量仪 的订单
日期：2024-12-23 13:42
浏览次数：1807
摘要：
岱美公司拿到采购Filmetrics薄膜厚度测量仪的订单。该客户是一家专业眼镜制造及销售的跨国集团公司。拥有全球*庞大的眼镜零售网络之一，遍布北美、澳洲、欧洲、香港、马来西亚、新加坡等多个国家和地区。该集团生产和销售众多的国际****。该客户用F20来测量眼睛镜片膜层及镜框保护层薄膜的厚度。该机操作简易，毫秒间就能测量出准确的数据。我们岱美的工程师已于2010年7月成功地完成安装并满足客户高精度的要求。
美国Filmetrics公司生产的F20薄膜厚度测量仪是以F20为平台，具有其系列的所有优点：利用光谱反射的原理，测量精度达到埃级的分辩率,测量快，操作简单及*具性价比的薄膜厚度测量设备。Filmetrics公司的设备测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm，测量厚度从30A到500um范围。凡是光滑的，透明或半透明的，或是对光有吸收的膜层都可以测量。 此外F20系列是Filmetrics公司的标配专用仪器，以其低廉的价格，优越的性能赢的客户的好评。
