岱美中国拿到采购Filmetrics膜厚测量仪F50-UV的订单（2010.1.18）

日期：2025-01-10 06:21

浏览次数：1078

摘要：

岱美中国拿到Filmetrics膜厚测量仪F50-UV的订单。该客户为国内研究铁电薄膜领域的**院校，主要研究BaTiO3，BNT，BLT等材料的特性及生长工艺。F50-UV主要用于研究铁电薄膜生长工艺，控制5" 硅片上BNT生长均匀性，以及研究一些太阳能领域使用的导电薄膜，如AZO等。

F50系列自动膜厚测量系统是基于F20薄膜厚度测量仪系列的升级版，具有多点测试、自动检测、检测速度快、测量精准等优点，该款设备波长范围为200-1100nm,可检测膜层厚度范围在1nm-40um之间，*大可自动测量12寸硅片，可根据实际应用选取扫描点数进行全图扫描，具有2点/秒的快速测量速度。

（该系统以于2011年10月交付，安装和和验收）

F50系列

下一篇：岱美中国拿到采购Filmetrics膜厚测量仪F20和F37的订单（2010.1.13）
上一篇：岱美将参加第十三届中国国际光电博览会

分享到：