产品目录
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- Schmitt 粗糙度测量仪
- MicroSense振动样品磁强计
- MicroSense电容式位移传感器
- Herzan
- Herz 防振台 隔振台
- Filmetrics光学膜厚测量仪
- 美国4D动态光学干涉仪
- Chaona 3D光学轮廓仪
- FEI 电子显微镜
- Imago 三维原子探针
- BrightSpot
- AEP
- BeneQ
- Bruker 能谱系统
- SNU
- WaveCatcher场地测量服务和工具
- 主轴跳动误差分析仪 主轴运动误差测试系统 主轴误差分析仪
- MKS流量计
- MKS压力计
- MKS残余气体分析仪
- MKS远程等离子体源
- SCI 等离子清洗设备
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2011光博展，iPhone4免费拿
日期：2024-11-25 05:13
浏览次数：1466
摘要：
岱美将于2011年9月6日至9日参加第十三届中国国际光电博览会（2011CIOE)，届时各位朋友亲临岱美展位9633，就可以获得精美小**一份，并有机会免费获得iPhone 4，活动具体内容如下：
1，展会期间下单(即9月6-9日),即送iPhone 4。
2，展会开始三个月内(即9月6-12月5日)下单购买指定产品,可得 iPhone 4, 请在展会期间向相关人员查询和登记。
