产品目录
- EVG 晶圆封装工艺设备
- DELCOM薄膜电阻计
- FSM
- Schmitt 粗糙度测量仪
- MicroSense振动样品磁强计
- MicroSense电容式位移传感器
- Herzan
- Herz 防振台 隔振台
- Filmetrics光学膜厚测量仪
- 美国4D动态光学干涉仪
- Chaona 3D光学轮廓仪
- FEI 电子显微镜
- Imago 三维原子探针
- BrightSpot
- AEP
- BeneQ
- Bruker 能谱系统
- SNU
- WaveCatcher场地测量服务和工具
- 主轴跳动误差分析仪 主轴运动误差测试系统 主轴误差分析仪
- MKS流量计
- MKS压力计
- MKS残余气体分析仪
- MKS远程等离子体源
- SCI 等离子清洗设备
- Simax 步进式光刻机
- CERES
- CETR
- CleanLogix
- Dover
- Essemtec
- First Nano
- Gatan
- Honda Electronics
- Imago
- Invenious
- Kayex
- Laser Prismatics
- LESCO
- MAT
- mks
- n&K Technology
- nPoint
- Polyteknik
- ShB
- Solar Metrology
- SST
- Tailor
- Tau Science
- Thermo Noran
- VIC
- WestBond
- 其它
- 二手仪器及零件
联系我们
中文网站:www.dymek.cn
上海分公司:
021-38613675/38613676
东莞分公司:
0769-89818868
北京分公司:
010-62615731/62615735
香港总公司:
00852-24153601
新闻详情
国内头个晶圆级光通讯器件制造商向岱美采购Filmetrics F50
日期:2024-11-25 09:44
浏览次数:1211
摘要:
岱美公司拿到采购Filmetrics-F50带自动Mapping功能的薄膜厚度测量仪的订单。该客户是由国内有名光电公司与加拿大ENABLENCE技术公司在佛山合资成立的合营公司,主要进行光电技术领域的合作,合资公司利用国外的成熟技术,作为国内头个从事晶圆级平面波导芯片、光通讯模块及相关光电产品研究、开发、设计、生产、销售的公司,开拓了该领域的先河。
由于客户的特殊应用,我们给该客户配置的该套测量系统考虑到了应用在透明与不透明基底的两种应用。充分满足客户的应用需求以及节省成本。
美国Filmetrics公司生产的F50薄膜厚度测量仪是具有自动Mapping功能的测量仪,具有其系列的所有优点:利用光谱反射的原理,测量精度达到埃级的分辩率,测量快,操作简单及*具性价比的薄膜厚度测量设备。Filmetrics公司的设备测量范围从近红外到紫外线,波长范围从200nm到1700nm,测量厚度从30A到500um范围。凡是光滑的,透明或半透明的,或是对光有吸收的膜层都可以测量。