产品目录
- EVG 晶圆封装工艺设备
- DELCOM薄膜电阻计
- FSM
- Schmitt 粗糙度测量仪
- MicroSense振动样品磁强计
- MicroSense电容式位移传感器
- Herzan
- Herz 防振台 隔振台
- Filmetrics光学膜厚测量仪
- 美国4D动态光学干涉仪
- Chaona 3D光学轮廓仪
- FEI 电子显微镜
- Imago 三维原子探针
- BrightSpot
- AEP
- BeneQ
- Bruker 能谱系统
- SNU
- WaveCatcher场地测量服务和工具
- 主轴跳动误差分析仪 主轴运动误差测试系统 主轴误差分析仪
- MKS流量计
- MKS压力计
- MKS残余气体分析仪
- MKS远程等离子体源
- SCI 等离子清洗设备
- Simax 步进式光刻机
- CERES
- CETR
- CleanLogix
- Dover
- Essemtec
- First Nano
- Gatan
- Honda Electronics
- Imago
- Invenious
- Kayex
- Laser Prismatics
- LESCO
- MAT
- mks
- n&K Technology
- nPoint
- Polyteknik
- ShB
- Solar Metrology
- SST
- Tailor
- Tau Science
- Thermo Noran
- VIC
- WestBond
- 其它
- 二手仪器及零件
联系我们
中文网站:www.dymek.cn
上海分公司:
021-38613675/38613676
东莞分公司:
0769-89818868
北京分公司:
010-62615731/62615735
香港总公司:
00852-24153601
新闻详情
岱美中国拿到采购Filmetrics膜厚测量仪F40-UV的订单(2011.12)
日期:2025-01-10 14:31
浏览次数:1292
摘要:
岱美中国拿到采购Filmetrics膜厚测量仪F40-UV的订单。该客户是上海一知名高校物理学院,主要研究的是高分子聚合物材料的性质,其主要用我们的F40-UV测量镀层的厚度,显微镜是用他们学校内部的显微镜。
F40-UV膜厚测量仪采用的是波长范围在200-1100nm的紫外可见光干涉测量,能够测量4nm-20um范围的膜层厚度,精度高达0.032nm,配置显微镜,能够清晰扫描膜层表面细微结构,非常适合测量膜层表面细微位置厚度。
(系统将于2012年1月交付,安装和和验收)
F40-UV膜厚测量仪采用的是波长范围在200-1100nm的紫外可见光干涉测量,能够测量4nm-20um范围的膜层厚度,精度高达0.032nm,配置显微镜,能够清晰扫描膜层表面细微结构,非常适合测量膜层表面细微位置厚度。
(系统将于2012年1月交付,安装和和验收)