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岱美中国拿到Filmetrics F40膜厚测量仪订单（2012.08）
日期：2024-11-25 10:26
浏览次数：1152
摘要：
岱美中国拿到采购Filmetrics膜厚测量仪F40的订单。该客户在北京拥有完整的半导体工艺晶圆厂，可在4英寸SiC晶圆上实现半导体功率器件的制造工艺。目前产品以600V~1700V SiC 肖特基二极管为主。该客户可以提供半导体功率器件应用模块的设计与组合方案，器件及模块的设计和制作严格以市场为导向。 该客户主要应用Filmetrics F40膜厚测量仪进行光电材料薄膜厚度测量。
F40膜厚测量仪：
F40膜厚测量仪采用的是波长范围在400-850nm的可见光干涉测量，能够测量20nm-20um范围的膜层厚度，精度高达0.01nm，是一款性价比很高的膜厚测量设备。
产品手册下载：
http://www.dymekchina.cn/pddetaildate/downloadctg/20090923_2360359_1.html
