岱美中国拿到Filmetrics膜厚测量仪F20-UV，穿透平台及连接显微镜配件的订单（2012.04.06）

日期：2024-11-25 08:29

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摘要：

岱美中国拿到Filmetrics膜厚测量仪F20-UV，穿透平台及连接显微镜配件的订单。该客户位于安徽合肥市，是一所教育部直属的国内重点大学、国家“211工程”重点建设高校和 “985工程”优势学科**平台建设高校。仪器主要用于测量研究性质类的各种膜层的厚度，由于测量种类很多，其所购的配件也很充分，带有能够测量*小3nm厚度的UV光源，测试穿透率的穿透平台，另外还购了连接其显微镜的C-mount接头，这样就可以测试更小实验样品的厚度。

F20-UV膜厚测试仪采用200nm～1100nm紫外可见光进行干涉测量，单测厚度的情况下测试范围达1nm～40um，分辨率高达0.1nm。由于仪器自身能够提供*小200nm的紫外波段，能够测量膜厚*小为1nm的薄膜层，在测量很薄膜层有很广泛的应用。

（F20-UV系统已于2011年7月交付，安装和和验收）

F20-UV

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