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岱美中国拿到采购Filmetrics膜厚测量仪F20-UV的订单（2012.06.01）
日期：2024-11-25 08:42
浏览次数：1167
摘要：
岱美中国拿到采购Filmetrics膜厚测量仪F20-UV的订单。该客户是一家**的专门模拟芯片代工厂，主要专门制造仿真半导体及双极型内容较高的混合讯号半导体，在汽车电子，MEMS，以及IGBT领域具有**地位。公司的客户包括部分全球**的集成器件制造商及无生产线半导体公司，产品用于各类终端市场应用方案，包括计算机，通讯及电子消费品。F20-UV仪器主要用于测量SiO2及GST等各种膜层的厚度。
F20-UV膜厚测量仪采用的是波长范围在200-1100nm的紫外可见光干涉测量，能够测量1nm-40um范围的膜层厚度，精度高达0.1nm，是一款性价比很高的膜厚测量设备。
（系统将于2012年9月交付，安装和和验收）
F20-UV
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F20-UV膜厚测量仪采用的是波长范围在200-1100nm的紫外可见光干涉测量，能够测量1nm-40um范围的膜层厚度，精度高达0.1nm，是一款性价比很高的膜厚测量设备。
（系统将于2012年9月交付，安装和和验收）
F20-UV