产品目录
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- DELCOM薄膜电阻计
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- Filmetrics光学膜厚测量仪
- 美国4D动态光学干涉仪
- Chaona 3D光学轮廓仪
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- Imago 三维原子探针
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- AEP
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- SNU
- WaveCatcher场地测量服务和工具
- 主轴跳动误差分析仪 主轴运动误差测试系统 主轴误差分析仪
- MKS流量计
- MKS压力计
- MKS残余气体分析仪
- MKS远程等离子体源
- SCI 等离子清洗设备
- Simax 步进式光刻机
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第十四届中国国际光电博览会 (CIOE 2012) 圆满落幕
日期:2024-11-25 08:44
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摘要:
为期4天的第十四届中国国际光电博览会(CIOEChina2012)于9月9日下午在深圳国际会展中心圆满落下帷幕。承蒙设备供应商的支持,展览期间岱美中国展出了Filmetrics,Schmitt, MicroSense,MKS,HERZ等样机作实演示。展会期间人气火爆,期间与客户进行深入交流及分享,让客户高兴而来,满意而归。在此感谢各界行业莅临参观交流。我们也将一如既往,在未来发展道路上办得更好。
展会现场