产品目录
- EVG 晶圆封装工艺设备
- DELCOM薄膜电阻计
- FSM
- Schmitt 粗糙度测量仪
- MicroSense振动样品磁强计
- MicroSense电容式位移传感器
- Herzan
- Herz 防振台 隔振台
- Filmetrics光学膜厚测量仪
- 美国4D动态光学干涉仪
- Chaona 3D光学轮廓仪
- FEI 电子显微镜
- Imago 三维原子探针
- BrightSpot
- AEP
- BeneQ
- Bruker 能谱系统
- SNU
- WaveCatcher场地测量服务和工具
- 主轴跳动误差分析仪 主轴运动误差测试系统 主轴误差分析仪
- MKS流量计
- MKS压力计
- MKS残余气体分析仪
- MKS远程等离子体源
- SCI 等离子清洗设备
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第十五届中国国际光电博览会圆满落幕
日期:2024-11-23 21:38
浏览次数:688
摘要:
岱美中国参加的为期4天的第十五届中国国际光电博览会(CIOEChina2013),于9月7日下午在深圳国际会展中心圆满落下帷幕。承蒙设备供应商的支持,展览期间,岱美中国展出了Filmetrics,Schmitt, MicroSense等样机作实时演示。展会期间人气火爆,期间与客户进行深入交流及分享,让客户高兴而来,满意而归。在此感谢各界行业莅临参观交流。我们也将一如既往,在未来发展道路上办得更好。
展会图片
样机:filmetrics
样机:MicroSense
样机:Schmitt
展会期间人气十足
展会图片
样机:filmetrics
样机:MicroSense
样机:Schmitt
展会期间人气十足