产品目录
- EVG 晶圆封装工艺设备
- DELCOM薄膜电阻计
- FSM
- Schmitt 粗糙度测量仪
- MicroSense振动样品磁强计
- MicroSense电容式位移传感器
- Herzan
- Herz 防振台 隔振台
- Filmetrics光学膜厚测量仪
- 美国4D动态光学干涉仪
- Chaona 3D光学轮廓仪
- FEI 电子显微镜
- Imago 三维原子探针
- BrightSpot
- AEP
- BeneQ
- Bruker 能谱系统
- SNU
- WaveCatcher场地测量服务和工具
- 主轴跳动误差分析仪 主轴运动误差测试系统 主轴误差分析仪
- MKS流量计
- MKS压力计
- MKS残余气体分析仪
- MKS远程等离子体源
- SCI 等离子清洗设备
- Simax 步进式光刻机
- CERES
- CETR
- CleanLogix
- Dover
- Essemtec
- First Nano
- Gatan
- Honda Electronics
- Imago
- Invenious
- Kayex
- Laser Prismatics
- LESCO
- MAT
- mks
- n&K Technology
- nPoint
- Polyteknik
- ShB
- Solar Metrology
- SST
- Tailor
- Tau Science
- Thermo Noran
- VIC
- WestBond
- 其它
- 二手仪器及零件
联系我们
中文网站：www.dymek.cn
上海分公司：
021-38613675/38613676
东莞分公司：
0769-89818868
北京分公司：
010-62615731/62615735
香港总公司：
00852-24153601
新闻详情
岱美中国拿到采购Filmetrics膜厚测量仪F20UV的订单（2013.7）
日期：2024-12-23 08:22
浏览次数：700
摘要：
岱美中国拿到采购Filmetrics膜厚测量仪F20UV的订单。客户属外商投资企业，专业生产销售高品质的ITO导电玻璃产品，同时还能大量接受TFT减薄加工以及薄化基板加工，低温CF镀膜，电容式触摸屏基板，电容触摸屏SENSOR。
F20UV膜厚测量仪采用的是波长范围在200-1100nm的可见光干涉测量，能够测量1nm-40um范围的膜层厚度，准确度高达0.4%或2nm，精度为0.1nm，是一款性价比很高的膜厚测量设备。
F20UV膜厚测量仪采用的是波长范围在200-1100nm的可见光干涉测量，能够测量1nm-40um范围的膜层厚度，准确度高达0.4%或2nm，精度为0.1nm，是一款性价比很高的膜厚测量设备。