产品目录
- EVG 晶圆封装工艺设备
- DELCOM薄膜电阻计
- FSM
- Schmitt 粗糙度测量仪
- MicroSense振动样品磁强计
- MicroSense电容式位移传感器
- Herzan
- Herz 防振台 隔振台
- Filmetrics光学膜厚测量仪
- 美国4D动态光学干涉仪
- Chaona 3D光学轮廓仪
- FEI 电子显微镜
- Imago 三维原子探针
- BrightSpot
- AEP
- BeneQ
- Bruker 能谱系统
- SNU
- WaveCatcher场地测量服务和工具
- 主轴跳动误差分析仪 主轴运动误差测试系统 主轴误差分析仪
- MKS流量计
- MKS压力计
- MKS残余气体分析仪
- MKS远程等离子体源
- SCI 等离子清洗设备
- Simax 步进式光刻机
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- 二手仪器及零件
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新闻详情
SEMICON China 2014，岱美中国诚邀您光临
日期：2024-11-22 02:47
浏览次数：913
摘要：
岱美中国将参加**十五届SEMICON China 2014，在此诚挚邀请各位业界朋友莅临观展，共同交流与分享，您的支持与参与将是我们*大的荣幸！
展位号：N2馆，2761
时间：2014年3月18-3月20日
地点：上海新国际博览中心
岱美中国信息如下：
http://expo.semi.org/china2014/Public/Booth.aspx?IndexInList=18&FromPage=ExhibitorSearch.aspx&BoothID=258608
展会展出样机：
Filmetrics光学膜厚测量仪
MicroSense电容式位移传感器
Schmitt 光学表面粗糙度测试仪
展会概况：
时间：2014年3月18-3月20日
地点：上海新国际博览中心
岱美中国信息如下：
http://expo.semi.org/china2014/Public/Booth.aspx?IndexInList=18&FromPage=ExhibitorSearch.aspx&BoothID=258608
展会展出样机：
Filmetrics光学膜厚测量仪
MicroSense电容式位移传感器
Schmitt 光学表面粗糙度测试仪
展会概况：
自1988年**在上海举办以来，SEMICON China自已成为中国首要的半导体行业盛事之一，囊括当今世界上半导体制造领域主要的设备及材料厂商。SEMICON China见证了中国半导体制造业茁壮成长，加速发展的历史，也必将为中国半导体制造业未来的强盛壮大作出贡献。
| SEMICON China 2014 主办单位：SEMI和中国电子商会 网址：http://www.semiconchina.org/ |