产品目录
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- DELCOM薄膜电阻计
- FSM
- Schmitt 粗糙度测量仪
- MicroSense振动样品磁强计
- MicroSense电容式位移传感器
- Herzan
- Herz 防振台 隔振台
- Filmetrics光学膜厚测量仪
- 美国4D动态光学干涉仪
- Chaona 3D光学轮廓仪
- FEI 电子显微镜
- Imago 三维原子探针
- BrightSpot
- AEP
- BeneQ
- Bruker 能谱系统
- SNU
- WaveCatcher场地测量服务和工具
- 主轴跳动误差分析仪 主轴运动误差测试系统 主轴误差分析仪
- MKS流量计
- MKS压力计
- MKS残余气体分析仪
- MKS远程等离子体源
- SCI 等离子清洗设备
- Simax 步进式光刻机
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- 二手仪器及零件
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新闻详情
岱美中国将参加**十五届SEMICON China 2015
日期:2024-12-23 09:05
浏览次数:638
摘要:
岱美中国将参加**十六届SEMICON China 2015,在此诚挚邀请各位业界朋友莅临观展,共同交流与分享,您的支持与参与将是我们*大的荣幸!
展位号:
时间:2015年3月17-3月19日
地点:上海新国际博览中心
展馆:W3
展位号:3715
展会展出样机:
Filmetrics光学膜厚测量仪
MicroSense电容式位移传感器
RAM影像测量仪
展会概况:
时间:2015年3月17-3月19日
地点:上海新国际博览中心
展馆:W3
展位号:3715
展会展出样机:
Filmetrics光学膜厚测量仪
MicroSense电容式位移传感器
RAM影像测量仪
展会概况:
自1988年**在上海举办以来,SEMICON China自已成为中国首要的半导体行业盛事之一,囊括当今世界上半导体制造领域主要的设备及材料厂商。SEMICON China见证了中国半导体制造业茁壮成长,加速发展的历史,也必将为中国半导体制造业未来的强盛壮大作出贡献。
SEMICON China 2015 主办单位:SEMI和中国电子商会 网址:http://www.semiconchina.org/ |